技术摘要：
本发明公开了一种发光二极管显示面板检测装置及检测方法。发光二极管显示面板检测装置包含m条第一连接线、n条第二连接线及检测电路。m与n均为正整数。发光二极管显示面板包含m*n个发光二极管。每条第一连接线分别耦接n个发光二极管的正极。每条第二连接线分别耦接m个发  全部
背景技术：
一般而言，目前大部分的发光二极管显示面板检测异常的发光二极管的方法通常 是在完成巨量转移后通过紫外光照射方式进行光学检测，或是接上系统后通过影像辨识方 式进行检测。 然而，由于上述的传统检测方式均是在每一次检测中仅检测单一发光二极管，就 整个显示面板所包含的大量发光二极管而言，若要完成所有发光二极管的检测工作，势必 要耗费非常长的时间，导致发光二极管显示面板的检测效率不佳，亟待改善。
技术实现要素：
有鉴于此，本发明提出一种发光二极管显示面板检测装置及发光二极管显示面板 检测方法，以有效解决现有技术所遭遇到的上述问题。 根据本发明的一具体实施例为一种发光二极管显示面板检测装置。于此实施例 中，发光二极管显示面板检测装置用以检测发光二极管显示面板。发光二极管显示面板包 含m*n个发光二极管，其中m与n均为正整数。 发光二极管显示面板检测装置包含m条第一连接线、n条第二连接线及检测电路。m 与n均为正整数。每一条第一连接线分别耦接n个发光二极管的正极。每一条第二连接线分 别耦接m个发光二极管的负极。检测电路用以对该m*n个发光二极管选择性地执行第一检测 模式、第二检测模式及第三检测模式中的至少一种，以检测出异常的发光二极管。 其中，于第一检测模式下，当该n条第二连接线中的任一第二连接线作动时，检测 电路依序检测该m条第一连接线；当该m条第一连接线中的任一第一连接线作动时，检测电 路依序检测该n条第二连接线。于第二检测模式下，当该任一第二连接线作动时，检测电路 同时检测该m条第一连接线。于第三检测模式下，当该任一第一连接线作动时，检测电路同 时检测该n条第二连接线。 于一实施例中，检测电路先执行第二检测模式或第三检测模式进行异常检测后， 再判断检测到的异常的发光二极管的数量大于1或等于1。 于一实施例中，若检测到的异常的发光二极管的数量大于1，检测电路执行第一检 测模式定位出异常的发光二极管。 于一实施例中，若检测到的异常的发光二极管的数量等于1，检测电路执行第二检 测模式或第三检测模式定位出异常的发光二极管。 于一实施例中，于第一检测模式下，当该任一第二连接线作动时，检测电路依序检 测该m条第一连接线与该任一第二连接线之间的电流是否异常；当该任一第一连接线作动 时，检测电路依序检测该n条第二连接线与该任一第一连接线之间的电流是否异常。 5 CN 111613158 A 说　明　书 2/10 页 于一实施例中，于第一检测模式下，当该任一第二连接线作动时，该任一第二连接 线与该n条第二连接线中的其余n-1条第二连接线的位准相反；当该任一第一连接线作动 时，该任一第一连接线与该m条第一连接线中的其余m-1条第一连接线的位准相反。 于一实施例中，于第一检测模式下，当检测电路检测到该任一第一连接线时，该任 一第一连接线与该m条第一连接线中的其余m-1条第一连接线的位准相反；当检测电路检测 到该任一第二连接线时，该任一第二连接线与该n条第二连接线中的其余n-1条第二连接线 的位准相反。 于一实施例中，于第二检测模式下，检测电路同时检测该m条第一连接线与该任一 第二连接线之间的电流是否异常。 于一实施例中，于第三检测模式下，检测电路同时检测该n条第二连接线与该任一 第一连接线之间的电流是否异常。 于一实施例中，当检测电路执行第一检测模式时，检测电路能够检测出的异常状 况包含开路、该任一第一连接线与其相邻第一连接线之间的短路、该任一第二连接线与其 相邻第二连接线之间的短路、该m*n个发光二极管中的任一发光二极管或其连接路径的阻 值过高以及该任一第二连接线的阻值过高。 于一实施例中，当检测电路执行第二检测模式时，检测电路能够检测出的异常状 况包含开路、该任一第一连接线与该任一第二连接线之间的短路、该任一第二连接线与其 相邻第二连接线之间的短路、该m*n个发光二极管中的任一发光二极管或其连接路径的阻 值过高以及该任一第二连接线的阻值过高。 于一实施例中，当检测电路执行第三检测模式时，检测电路能够检测出的异常状 况包含开路、该任一第一连接线与该任一第二连接线之间的短路、该任一第一连接线与其 相邻第一连接线之间的短路、该m*n个发光二极管中的任一发光二极管或其连接路径的阻 值过高以及该任一第二连接线的阻值过高。 根据本发明的另一具体实施例为一种发光二极管显示面板检测方法。于此实施例 中，发光二极管显示面板检测方法用以检测发光二极管显示面板。发光二极管显示面板包 含m*n个发光二极管，其中m与n均为正整数。 发光二极管显示面板检测方法包含下列步骤： 提供m条第一连接线、n条第二连接线及检测电路，其中每一条第一连接线分别耦 接n个发光二极管的正极且每一条第二连接线分别耦接m个发光二极管的负极；以及 检测电路TC对该m*n个发光二极管选择性地执行第一检测模式、第二检测模式及 第三检测模式中的至少一种，以检测出异常的发光二极管。 其中，于第一检测模式下，当该n条第二连接线中的任一第二连接线作动时，检测 电路依序检测该m条第一连接线；当该m条第一连接线中的任一第一连接线作动时，检测电 路依序检测该n条第二连接线。于第二检测模式下，当该任一第二连接线作动时，检测电路 同时检测该m条第一连接线。于第三检测模式下，当该任一第一连接线作动时，检测电路同 时检测该n条第二连接线。 于一实施例中，该检测电路先执行该第二检测模式或该第三检测模式进行异常检 测后，再判断检测到的异常的发光二极管的数量大于1或等于1。 于一实施例中，若检测到的异常的发光二极管的数量大于1，该检测电路执行该第 6 CN 111613158 A 说　明　书 3/10 页 一检测模式定位出异常的发光二极管。 于一实施例中，若检测到的异常的发光二极管的数量等于1，该检测电路执行该第 二检测模式或该第三检测模式定位出异常的发光二极管。 于一实施例中，于该第一检测模式下，当该任一第二连接线作动时，该检测电路依 序检测该m条第一连接线与该任一第二连接线之间的电流是否异常；当该任一第一连接线 作动时，该检测电路依序检测该n条第二连接线与该任一第一连接线之间的电流是否异常。 于一实施例中，于该第一检测模式下，当该任一第二连接线作动时，该任一第二连 接线与该n条第二连接线中的其余n-1条第二连接线的位准相反；当该任一第一连接线作动 时，该任一第一连接线与该m条第一连接线中的其余m-1条第一连接线的位准相反。 于一实施例中，于该第一检测模式下，当该检测电路检测到该任一第一连接线时， 该任一第一连接线与该m条第一连接线中的其余m-1条第一连接线的位准相反；当该检测电 路检测到该任一第二连接线时，该任一第二连接线与该n条第二连接线中的其余n-1条第二 连接线的位准相反。 于一实施例中，于该第二检测模式下，该检测电路同时检测该m条第一连接线与该 任一第二连接线之间的电流是否异常。 于一实施例中，于该第三检测模式下，该检测电路同时检测该n条第二连接线与该 任一第一连接线之间的电流是否异常。 于一实施例中，当该检测电路执行该第一检测模式时，该检测电路能够检测出的 异常状况包含开路、该任一第一连接线与其相邻第一连接线之间的短路、该任一第二连接 线与其相邻第二连接线之间的短路、该m*n个发光二极管中的任一发光二极管或其连接路 径的阻值过高以及该任一第二连接线的阻值过高。 于一实施例中，当该检测电路执行该第二检测模式时，该检测电路能够检测出的 异常状况包含开路、该任一第一连接线与该任一第二连接线之间的短路、该任一第二连接 线与其相邻第二连接线之间的短路、该m*n个发光二极管中的任一发光二极管或其连接路 径的阻值过高以及该任一第二连接线的阻值过高。 于一实施例中，当该检测电路执行该第三检测模式时，该检测电路能够检测出的 异常状况包含开路、该任一第一连接线与该任一第二连接线之间的短路、该任一第一连接 线与其相邻第一连接线之间的短路、该m*n个发光二极管中的任一发光二极管或其连接路 径的阻值过高以及该任一第二连接线的阻值过高。 相较于现有技术，根据本发明的发光二极管显示面板检测装置及发光二极管显示 面板检测方法利用发光二极管显示驱动电路的输出通道选择性地通过三种不同的检测模 式对发光二极管显示面板的所有发光二极管进行异常侦测，不仅可有效检测出发光二极管 显示面板的多种常见的异常状况(例如开路、短路或阻值过高等)，还可大幅缩短对发光二 极管显示面板的所有发光二极管进行检测所需的检测时间，由以有效提升发光二极管显示 面板的检测效率。此外，本发明还可进一步根据上述检测结果决定是否需要对出现异常的 发光二极管进行后续修补的动作。 关于本发明的优点与精神可以通过以下的发明详述及所附附图得到进一步的了 解。 7 CN 111613158 A 说　明　书 4/10 页 附图说明 图1为发光二极管的电压差对电流的变化曲线示意图。 图2为当本发明的发光二极管显示面板检测装置运作于第一检测模式的示意图。 图3为当本发明的发光二极管显示面板检测装置运作于第二检测模式的示意图。 图4为当本发明的发光二极管显示面板检测装置运作于第三检测模式的示意图。 图5为本发明的发光二极管显示面板检测装置应用于发光二极管开路(Open)检测 的示意图。 图6为本发明的发光二极管显示面板检测装置应用于第一连接线与第二连接线之 间的短路(Short)检测的示意图。 图7为本发明的发光二极管显示面板检测装置应用于两条第一连接线之间的短路 (Short)检测的示意图。 图8为本发明的发光二极管显示面板检测装置应用于两条第二连接线之间的短路 (Short)检测的示意图。 图9为本发明的发光二极管显示面板检测装置侦测发光二极管或其耦接路径的电 阻值是否过高的示意图。 图10为本发明的发光二极管显示面板检测装置侦测第二连接线的电阻值是否过 高的示意图。 图11为电流检测结果的范围区间的示意图。 图12为根据本发明的另一较佳具体实施例中的发光二极管显示面板检测方法的 流程图。 主要元件符号说明： S11～S18：步骤 VTH：临界电压 ITH：临界电流 I：电流 IH：电流 IL：电流 V：电压 VH：电压 VL：电压 TC：检测电路 A1～Am：第一连接线 C1～Cn：第二连接线 LED11～LEDmn：发光二极管 OP：开路 SH：短路 R：电阻值 PASS：通过检测区域 IS：短路判断电流值 8 CN 111613158 A 说　明　书 5/10 页 IR：高电阻判断电流值 IO：断路判断电流值 HR：高阻值区域 ID：电流 VCA：电压