技术摘要：
本发明提供一种镜头杂光测试装置及方法，其中的装置包括测试系统、与测试系统连接的显示屏幕和探测器，以及设置在显示屏幕和探测器之间的成像镜头；其中，待测试镜头设置在成像镜头和显示屏幕之间，探测器设置在成像镜头远离待测试镜头的一侧，显示屏幕发出的光线依次  全部
背景技术：
目前，在手机镜头、安防摄像头等光学产品中普遍存在杂光的现象，杂光主要是由 于环境中各个角度的光线在镜头的镜片、镜筒内表面、隔圈等结构中进行折射、反射等光路 活动而产生的，其不仅影响镜头的成像品质，严重情况下还会影响用户体验。 为此，在光学镜头生产或者出厂时，会先进行杂光检测，获取镜头的杂光系数，杂 光系数是评价光学镜头杂光抑制性能的一个重要指标，现有杂光系数的测试方法大多针对 摄影镜头等正向成像镜头，对于AR、VR等逆成像类投影镜头杂光系数的测试方法较少，要么 直接采用肉眼检测，要么测试装置过于繁琐、测试过程复杂。 为此，目前亟需一种能够简单、快速地对逆成像类镜头进行杂光系数检测的测试 装置及方法。
技术实现要素：
鉴于上述问题，本发明的目的是提供一种镜头杂光测试装置及方法，以解决目前 采用肉眼或特殊装置进行杂光测试存在的测试精度低或者测试装置繁琐、过程复杂等问 题。 本发明提供的镜头杂光测试装置，包括测试系统、与测试系统连接的显示屏幕和 探测器，以及设置在显示屏幕和探测器之间的成像镜头；其中，待测试镜头设置在成像镜头 和显示屏幕之间，探测器设置在成像镜头远离待测试镜头的一侧，显示屏幕发出的光线依 次经过待测试镜头、成像镜头后，到达探测器；测试系统用于控制显示屏幕的发光区域，以 在显示屏幕上形成测试区域，在探测器上形成与测试区域对应的成像区域；根据成像区域 的照度变化，确定待测试镜头在测试区域的杂光系数。 此外，优选的技术方案是，成像镜头的视场角不小于待测试镜头的视场角，和/或 者成像镜头的入瞳与待测试镜头的出瞳相匹配。 此外，优选的技术方案是，待测试镜头为像方远心镜头。 此外，优选的技术方案是，测试区域为规则多边形或者圆形。 此外，优选的技术方案是，测试区域在显示屏幕上呈均匀分布状态；或者，测试区 域分布在显示屏幕的四个角部位置和中心位置。 此外，优选的技术方案是，测试区域的边长或直径为显示屏幕的边长的8％～ 12％。 此外，优选的技术方案是，探测器为CCD或CMOS。 此外，优选的技术方案是，待测试镜头为AR投影镜头或者VR投影镜头。 此外，优选的技术方案是，显示屏幕为待测试镜头的自带屏幕。 3 CN 111610003 A 说　明　书 2/4 页 根据本发明的另一方面，提供一种镜头杂光测试方法，利用上述镜头杂光测试装 置对待测试镜头进行杂光测试，方法包括：通过测试系统控制显示屏幕的测试区域不发光， 并读取探测器上的成像区域的第一照度；控制显示屏幕的整个区域发光，再次读取探测器 上的成像区域的第二照度；根据第一照度和第二照度确定待测试镜头在测试区域的杂光系 数。 利用上述镜头杂光测试装置及方法，通过测试系统控制显示屏幕上的测试区域的 发光情况，进而在探测系统上形成与测试区域对应的成像区域，并在调整测试区域的发光 状态时，获取成像区域的照度变化，进而确定待测试镜头在测试区域的杂光系数，可实现对 逆成像镜头的杂光系数测试，装置结构简单、测试精度高、速度快。 为了实现上述以及相关目的，本发明的一个或多个方面包括后面将详细说明的特 征。下面的说明以及附图详细说明了本发明的某些示例性方面。然而，这些方面指示的仅仅 是可使用本发明的原理的各种方式中的一些方式。此外，本发明旨在包括所有这些方面以 及它们的等同物。 附图说明 通过参考以下结合附图的说明，并且随着对本发明的更全面理解，本发明的其它 目的及结果将更加明白及易于理解。在附图中： 图1为根据本发明实施例的镜头杂光测试装置的原理图； 图2为根据本发明实施例的显示屏幕和探测器示意图； 图3为根据本发明实施例的测试区域分布示意图； 图4为根据本发明实施例二的测试区域分布示意图。 其中的附图标记包括：显示屏幕1、待测试镜头2、成像镜头3、探测器4、光线5、测试 系统6、测试区域7、成像区域8。 在所有附图中相同的标号指示相似或相应的特征或功能。