技术摘要：
本申请实施例公开了一种显示面板检查方法、装置及电子设备。该显示面板检查方法包括在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集显示面板设计程序中用户当前设计操作对应的显示面板设计参数；获取预置的显示面板的设计策略；基于所述显示面板的设计策略，检查所述显  全部
背景技术：
随着显示技术的发展，液晶显示器(Liquid  Crystal  Display，LCD)及有机发光二 极管显示器(Organic  Light  Emitting  Display，OLED)等平面显示装置因具有高画质、省 电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、 笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示装置中的主流。 通常在显示面板的设计过程中，由于设计规范条款较多，现有技术主要靠人力目 测检查设计图纸，需求人力较多，且需要重复多次检查，同时存在漏检风险，任何一个设计 错误，都会造成掩膜板报废、良率下降等问题。
技术实现要素：
本申请实施例提供一种显示面板检查方法、装置及电子设备，按照设计策略自动 对显示面板设计过程中的显示面板设计参数进行规范检查，检查设计错误并提示，实现了 显示面板设计过程中的智能检查，避免了人工审查和重复审查，降低了显示面板设计阶段 工作量，提升了设计人员工作效率。 为解决上述问题，一方面，本申请提供一种显示面板检查方法，所述方法包括： 在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集显示面板设计程序中用户当前 设计操作对应的显示面板设计参数； 获取预置的显示面板的设计策略，所述设计策略包括显示面板中各结构的设计策 略，以及显示面板中结构之间的对应关系； 基于所述显示面板的设计策略，检查所述显示面板设计参数是否正常； 在所述显示面板设计参数不正常时，在显示面板设计程序中进行提示。 在本申请一些实施例中，所述在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集 显示面板设计程序中用户当前设计操作对应的显示面板设计参数，包括： 在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集用户当前设计操作对应的目标 操作对象的设计参数； 采集所述目标操作对象与当前已存在的设计对象之间的对应关系； 所述用户当前设计操作对应的显示面板设计参数包括目标操作对象的设计参数， 及所述目标操作对象与当前已存在的设计对象之间的对应关系。 在本申请一些实施例中，所述显示面板为薄膜晶体管液晶显示面板，所述设计策 略中包括TFT基板设计策略、上偏光片设计策略、CF基板设计策略和下偏光片设计策略； 所述TFT基板设计策略包括TFT基板中各层的规格设计参数，以及TFT基板中各层 之间的对应关系； 所述CF基板设计策略包括CF基板中各层的规格设计参数，以及CF基板中各层之间 4 CN 111583841 A 说　明　书 2/12 页 的对应关系。 在本申请一些实施例中，所述TFT基板设计策略中包括测试端子设计策略，所述测 试端子设计策略中包括测试端子尺寸规格、测试端子与驱动芯片距离大于预设阈值、测试 端子距离TFT基板的长边大于X，短边大于Y，以及测试端子之间的间距大于Z，其中，X，Y，Z均 为正数。 在本申请一些实施例中，所述TFT基板设计策略中还包括材料和厚度策略，线宽定 义限制策略，对准误差限制策略和TFT的工艺参数策略。 在本申请一些实施例中，所述方法还包括： 获取显示面板新的设计策略，所述新的设计策略包括显示面板中至少一结构的设 计策略，或者至少一显示面板中结构之间的对应关系； 基于所述新的设计策略，更新所述显示面板的设计策略。 另一方面，本申请提供一种显示面板检查装置，所述装置包括： 采集模块，用于在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集显示面板设计 程序中用户当前设计操作对应的显示面板设计参数； 获取模块，用于获取预置的显示面板的设计策略，所述设计策略包括显示面板中 各结构的设计策略，以及显示面板中结构之间的对应关系； 检查模块，用于基于所述显示面板的设计策略，检查所述显示面板设计参数是否 正常； 提示模块，用于在所述显示面板设计参数不正常时，在显示面板设计程序中进行 提示。 在本申请一些实施例中，所述采集模块具体用于： 在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集用户当前设计操作对应的目标 操作对象的设计参数； 采集所述目标操作对象与当前已存在的设计对象之间的对应关系； 所述用户当前设计操作对应的显示面板设计参数包括目标操作对象的设计参数， 及所述目标操作对象与当前已存在的设计对象之间的对应关系。 在本申请一些实施例中，所述显示面板为薄膜晶体管液晶显示面板，所述设计策 略中包括TFT基板设计策略、上偏光片设计策略、CF基板设计策略和下偏光片设计策略； 所述TFT基板设计策略包括TFT基板中各层的规格设计参数，以及TFT基板中各层 之间的对应关系； 所述CF基板设计策略包括CF基板中各层的规格设计参数，以及CF基板中各层之间 的对应关系。 在本申请一些实施例中，所述TFT基板设计策略中包括测试端子设计策略，所述测 试端子设计策略中包括测试端子尺寸规格、测试端子与驱动芯片距离大于预设阈值、测试 端子距离TFT基板的长边大于X，短边大于Y，以及测试端子之间的间距大于Z，其中，X，Y，Z均 为正数。 在本申请一些实施例中，所述TFT基板设计策略中还包括材料和厚度策略，线宽定 义限制策略，对准误差限制策略和TFT的工艺参数策略。 在本申请一些实施例中，所述材料和厚度策略中包括栅极、栅极绝缘层、半导体 5 CN 111583841 A 说　明　书 3/12 页 层、掺杂半导体层、源漏极金属以及透明电极中至少一种的材料和厚度信息。 在本申请一些实施例中，所述线宽定义限制策略包括栅极金属线、半导体层线、源 漏极金属线、接触孔、ITO透明电极中至少一种的线宽定义限制信息。 在本申请一些实施例中，对准误差限制策略中包括半导体层和栅极金属、源漏极 金属和栅极金属、源漏极金属和半导体层、接触孔和栅极金属、接触孔和源漏极金属、透明 电极和源漏极金属、透明电极和栅极金属、透明电极和接触孔中至少一种的对准误差限制 信息。 在本申请一些实施例中，所述TFT的工艺参数策略中可以包括电子迁移率、截止电 压、漏电流寄生电容中至少一种工艺参数。 在本申请一些实施例中，所述显示面板为有机发光二极管显示面板。 在本申请一些实施例中，所述装置还包括更新模块，所述更新模块用于： 获取显示面板新的设计策略，所述新的设计策略包括显示面板中至少一结构的设 计策略，或者至少一显示面板中结构之间的对应关系； 基于所述新的设计策略，更新所述显示面板的设计策略。 另一方面，本申请提供一种电子设备，所述电子设备包括：一个或多个处理器； 存储器；以及 一个或多个应用程序，其中所述一个或多个应用程序被存储于所述存储器中，并 配置为由所述处理器执行以实现所述的显示面板检查方法。 本申请实施例可以在显示面板设计阶段，按照设计策略自动对显示面板设计过程 中的显示面板设计参数进行规范检查，检查设计错误并提示，实现了显示面板设计过程中 的智能检查，避免了人工审查和重复审查，降低了显示面板设计阶段工作量，提升了设计人 员工作效率。 附图说明 为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使 用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于 本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附 图。 图1是本申请实施例提供显示面板检查方法的一个实施例流程示意图； 图2是本申请实施例提供步骤101的一个实施例流程示意图； 图3是本申请实施例提供显示面板检查装置的一个实施例流程示意图； 图4是本申请实施例提供电子设备的一个实施例流程示意图。