技术摘要：
实现偏振光比良好的发光装置。发光装置具有：半导体激光元件；以及透光性部件，其至少从半导体激光元件出射的激光从下表面向上表面透过的区域由蓝宝石构成；透光性部件的供激光入射的入射面为与蓝宝石的c轴平行的平面，并且透光性部件以在俯视时向入射面入射的激光的偏  全部
背景技术：
在专利文献1中公开有如下半导体激光装置：利用基板与盖将半导体激光元件气 密密封，在来自半导体激光元件的光所通过的区域设有透光性部件。另外，如专利文献2所 公开的液晶投影仪那样，存在一种在利用从光源出射的光时考虑该光的偏振光特性的光学 装置。 专利文献1：日本特开2012－94728 专利文献2：日本特开2019－3209
技术实现要素：
发明将要解决的课题 本发明的课题在于实现偏振光比良好的发光装置。 用于解决课题的手段 由本说明书公开的发光装置具有：半导体激光元件；以及透光性部件，其至少从所 述半导体激光元件出射的激光从下表面向上表面透过的区域由蓝宝石构成；所述透光性部 件的供所述激光入射的入射面为与蓝宝石的c轴平行的平面，并且所述透光性部件以在俯 视时向所述入射面入射的所述激光的偏振光方向与蓝宝石的c轴平行或者垂直的朝向设 置。 另外，由本说明书公开的发光装置具有：半导体激光元件；以及透光性部件，其至 少从所述半导体激光元件出射的激光从下表面向上表面透过的区域由蓝宝石构成；从所述 半导体激光元件出射的激光的远场图案为椭圆形状所述透光性部件的供所述激光入射的 入射面为与蓝宝石的c轴平行的平面，并且在俯视时，所述透光性部件以所述激光的椭圆形 状的长径方向所对应的方向与蓝宝石的c轴平行或者垂直的朝向设置。 另外，由本说明书公开的发光装置具有：半导体激光元件；准直透镜；以及透光性 部件，其至少从所述半导体激光元件出射并被所述准直透镜准直后的激光所透过的区域由 蓝宝石构成；所述透光性部件的供所述激光入射的入射面为蓝宝石的c面。 另外，由本说明书公开的光学装置具有：由本说明书公开的发光装置；偏振光元 件，其供从所述发光装置出射的光入射；液晶面板，其供从所述发光装置出射并经由所述偏 振光元件的光入射；以及投影透镜，其使基于从所述发光装置出射的光制作出的投影图像 投影。 发明效果 根据本公开，能够实现偏振光比良好的发光装置。 4 CN 111585163 A 说　明　书 2/12 页 附图说明 图1是实施方式的发光装置的立体图。 图2是用于说明实施方式的发光装置的构成要素的立体图。 图3是实施方式的发光装置的俯视图。 图4是用于说明实施方式的发光装置的构成要素的俯视图。 图5是图3的V-V线的实施方式的发光装置的剖面图。 图6是基于图6图5的剖面图表示实施方式的发光装置的光的出射区域的剖面图。 图7是表示实施方式的发光装置的透光性部件中的光的出射区域的俯视图。 图8是表示实施方式的发光装置的透镜部件中的光的出射区域的俯视图。 图9是改变蓝宝石的透光性部件的平面方向的角度测定偏振光比而得的实验数 据。 图10是改变蓝宝石的透光性部件的平面方向的角度测定偏振光比而得的实验数 据。 图11是改变蓝宝石的透光性部件的平面方向的角度测定偏振光比而得的实验数 据。 图12是图9至图11的实验条件的示意图。 图13是改变蓝宝石的透光性部件的高度方向的角度测定偏振光比而得的实验数 据。 图14是改变蓝宝石的透光性部件的高度方向的角度测定偏振光比而得的实验数 据。 图15是改变蓝宝石的透光性部件的高度方向的角度测定偏振光比而得的实验数 据。 图16是图12至图15的实验条件的示意图。 图17是改变蓝宝石的透光性部件的厚度测定偏振光比而得的实验数据。 图18是另一实施方式的发光装置的剖面图。 图19是搭载有实施方式的发光装置的液晶投影仪的示意图。 附图标记说明 1(1A)(1B)  发光装置 10(10A)(10B)  基部 11(11A)(11B)  框部 12   底部 13   台阶部 14   第一侧面 15   第二侧面 20   半导体激光元件 30    子基板 40   光反射部件 50   保护元件 60    透光性部件 5 CN 111585163 A 说　明　书 3/12 页 70(70A)   透镜部件 71    平面区域 72    透镜区域 80   粘合部 2    光学装置 201  光源 202  偏振光元件 203  液晶面板 204  投影透镜 E1   准直透镜 E2    偏振光子 E3    ND滤波器 E4    检测器光电二极管 E5   光圈