技术摘要：
本发明提供了一种基于六轴机械臂的电子系统EMI检测与定位方法，在辐射点源正前方高度H处布置固定天线，并根据辐射点源与固定天线的位置构建固定天线‑辐射点源空间坐标系、采样面，并在采样面上划分M×N点阵作为预设采样点；使用六轴机械臂移动检测天线定位在预设采样点  全部
背景技术：
随着现在市面上的电子电路系统往复杂化高速化方向发展，伴随而来的电磁干扰 (EMI、Electromagnetic  Interference)问题也逐渐引起业界的重视，目前电子行业所使用 的微波暗室测量方法存在使用效率较低的问题。且在5G浪潮下，大流量、高带宽的通信或处 理设备大量涌现，对设备信号完整性与EMI可靠性要求与日俱增。在这一背景下，相关企业 和研发机构在对产品进行设计时，迫切希望能对其产品的电磁干扰特征进行全面把控，包 括获得产品的高精度EMI辐射分布，以及定位其强辐射模块或区域等。目前行业使用的EMI 检测方法只能检测3/5m电磁辐射强度，并不能进一步检测产品的EMI辐射瓣图、近场分布等 信息。另一方面，目前的EMI检测标准在兼容5G及太赫兹频段方面存在技术瓶颈，并未对该 频段下的电子产品做好准备。基于以上背景，需要在传统的3/5m微波暗室检测法的基础上 开发新的检测机制与技术方案，带动电磁兼容检测领域的升级。
技术实现要素：
本发明提供了一种基于六轴机械臂的电子系统EMI检测与定位方法，解决现有微 波暗室检测方法存在的使用效率低、无法反演电子系统EMI辐射分布、无法满足5G及太赫兹 频段兼容等问题。 本发明提供了一种基于六轴机械臂的电子系统EMI检测与定位方法，所述方法为： 在辐射点源正前方高度H处布置固定天线，并根据辐射点源与固定天线的位置构建固定天 线-辐射点源空间坐标系，以所述固定天线-辐射点源空间坐标系构建采样面，并在采样面 上划分M×N点阵作为预设采样点；使用搭载于可移动平台的六轴机械臂移动检测天线定位 在预设采样点，通过矢量网络分析仪分别检测记录预设采样点上的电磁辐射强度和与固定 天线之间的相位差，遍历所有预设采样点，计算受测电子系统3/5m处电磁辐射强度；基于近 场EMI分布算法将采样面内扫描到的所有采样点的位置坐标和该点上的电场参数进行综合 运算，最终推导出被测电子系统待测平面的电磁场分布。 进一步的，所述采样面的形状可以是球面或柱面或平面，采样面正交放置在固定 天线-辐射点源空间坐标系。 进一步的，使用搭载于可移动平台的六轴机械臂移动天线定位在预设采样点的方 法为：给六轴机械臂的可移动平台建立可移动平台空间坐标系进行粗定位，获得可移动平 台坐标M(xm,ym) ,预设采样点S(xs,ys,zs)以及可移动平台坐标系(Xm,Ym,Zm)与固定天线-辐 射点源坐标系(X,Y,Z)间的转角β，根据转角β将预设采样点S(xs,ys,zs)变换到可移动平台 空间坐标系中Sm(xsm,ysm,zsm)，然后计算出六轴机械臂的运动学方程T： 4 CN 111596159 A 说　明　书 2/6 页 其中n,o,a三个向量分别表示六轴机械臂末端坐标系的3个坐标轴上的单位向量 投影到可移动平台坐标M(xm,ym)的方向余弦；p向量则表示六轴机械臂末端坐标系原点在可 移动平台坐标系的坐标，即Sm，根据以上设定，求解六轴机械臂的逆运动学求解，即六轴机 械臂六个关节转角θ1～θ6。 进一步的，为了反演计算受测电子系统3/5m处电磁辐射强度，首先计算辐射点源 的瞬时功率，计算公式如公式(1)所示, 式中， 与 分别表示空间中坡印廷矢量通过的某平面上的电场和磁场分布，Ex与 Ey是检测天线在X,Y极化方向上的所测到的电磁波强度分布，η是空气的平面波阻抗，η＝ 377Ω； 然后，将受测电子系统与3/5m标准检测距离的间距记为d,通过计算该距离d下的 自由空间衰减即可获得3/5m场内的电磁辐射强度，计算公式如公式(2)、(3)所示： E＝120 20LogEr   (3) 式中，Er的单位是V/m，E的单位是电磁辐射强度，单位dBμV/m。 进一步的，通过所述近场EMI分布算法反演待测设备表面电磁辐射强度分布的具 体计算过程为：首先，获得采样面各预设采样点处的电场复振幅E(x,y,z) ,如公式(4)所示： 式中，A为预设采样点处电场复振幅的模，kx,ky,kz为EMI传输坡印廷矢量在空间中 x、y、z方向上的分量； 然后，对采样面电场分布进行平面卷积并取空间傅里叶变换，即可获得所测辐射 点源在采样平面范围内的空间频率谱f(kx,ky,kz)，如公式(5)所示， 最后，在获得空间频谱的基础上，根据辐射点源在Y轴的辐射距离R对空间频谱进 行相位变换，通过算子 将采样面的原始EMI电磁波相位分布反演到辐射点位，然后使 用逆傅里叶变换获得初始点位的电场分布，即受测设备表面的EMI辐射强度分布，如公式 (6)所示， 本发明的有益效果： 采用本发明的这种电子系统EMI检测与定位方法，可以在两方面提高目前电子系 统EMI检测的性能与效率，第一层面：在保证传统3/5m暗室检测功能的基础上，具有在受测 电子系统球面空间内空间踩点的能力，计算受测电子系统在空间范围内EMI球面波/准球面 波的幅值分布与相位分布，实现了对受测电子系统表面EMI辐射强度分布的反演、成像，这 5 CN 111596159 A 说　明　书 3/6 页 可以直接指导开发企业或研发者对设备EMI性能开展优化与整改；另一方面，该检测与定位 方法的分辨率会随着受测电子设备EMI的升高而升高，天然具有向上兼容5G频段及太赫兹 频段EMI检测的能力；该检测与定位方法还可以通过软件灵活设定检测天线的布设位置、采 样方式和孔径，自由切换不同的采样面与点阵，满足不同行业或装备检测的需求，具有更广 的应用范围；检测与定位过程高效、快速，且系统易于部署，满足大型企业长产品线、多批次 密集检测的要求。 附图说明 图1为本发明基于六轴机械臂的电子系统EMI检测与定位方法原理图； 图2为本发明计算六轴机械臂六个关节转角角度的原理图； 图3为本发明六轴机械臂的六轴模型图。