技术摘要：
本申请属于测试技术领域，具体涉及一种模型的处理器在环测试方法、装置、设备和介质。所述方法包括：创建第一系统测试工程，以搭建嵌入式系统模型并生成目标机可运行的目标程序；创建第二系统测试工程，以搭建测试链接模型，所述测试链接模型用于获取并同步上传实时测  全部
背景技术：
随着嵌入式智能控制产品的快速发展，对嵌入式智能控制模型的测试效率成为影 响嵌入式智能控制产品开发周期的重要因素之一。并且，基于模型的设计(Model  Based  Design，MBD)已经逐渐成为控制系统设计的主流开发模式，尤其在汽车电子行业，MBD开发 能力是主机厂对汽车零部件厂商技术能力的基本要求。处理器在环(Professor  In  Loop， PIL)测试是MBD开发流程的重要一环。 然而，搭建处理器在环测试的测试平台技术难度很高，业内的主机厂和零部件厂 商一般采用专业公司提供的测试方案。虽然专业公司提供的PIL测试软件的测试功能比较 完善，但软件价格和服务费用较高，给零部件厂商带来很大的经济压力。另外，若需要根据 具体的目标处理器进行定制开发PIL测试软件，定制周期比较长，且需要额外收费，严重影 响测试效率。
技术实现要素：
基于此，有必要针对上述