技术摘要：
本发明公开了一种半导体测序装置，属于基因测序技术领域。所述半导体测序装置包括：汇流块，其上设置有第一进液口和第一出液口；芯片组件，包括芯片和压设于所述芯片上的压块，所述压块上设置进液通道和出液通道；驱动机构，其输出端连接所述汇流块，所述驱动机构用于  全部
背景技术：
随着基因测序技术的发展，采用半导体技术完成测序成为了新的研究方向。区别 于传统的采用光学原理进行测序，半导体芯片的微孔中固定有DNA链，随着碱基的掺入，在 聚合酶的作用下，测序引物发生延伸，并释放出氢离子，通过对氢离子的检测实现对待测序 列上碱基的实时判读，使测序过程更简单、快捷和低成本。 现有的半导体测序过程仍需要在测序平台上人工上样至芯片，不仅测序效率低、 上样量精度差，测试时芯片的进液处和出液处的密封性也较差，导致试剂不能有效地流入 芯片的微孔内完成测试，清洗液不能对芯片实现充分清洗或废液不能从芯片处及时排出， 进而发生液体之间的相互掺杂，影响最终检测结果的准确性。 因此，亟待提供一种半导体测序装置解决上述问题。
技术实现要素：
本发明的目的在于提供一种半导体测序装置，能够实现上样的自动化、精准化操 作，同时对芯片的进液处和出液处进行充分密封，保证液体能有效进出芯片内，获得准确的 检测结果。 为实现上述目的，提供以下技术方案： 一种半导体测序装置，包括： 汇流块，其上设置有第一进液口和第一出液口； 芯片组件，包括芯片和压设于所述芯片上的压块，所述压块上设置进液通道和出 液通道； 驱动机构，其输出端连接所述汇流块，所述驱动机构用于驱动所述汇流块靠近所 述芯片组件，直至压紧所述压块，以使所述汇流块的所述第一出液口和所述压块的所述进 液通道相连通、所述汇流块的所述第一进液口与所述压块的所述出液通道相连通，进而液 体能够在所述芯片与所述汇流块之间流动； 所述第一进液口与所述出液通道之间、所述第一出液口与所述进液通道之间各设 置一个第一密封件。 作为优选，所述压块上设置两个第一密封槽，两个所述第一密封件各设于一个所 述第一密封槽内； 所述进液通道和所述出液通道均贯穿所述压块以在相应的所述第一密封槽的槽 底形成第二进液口和第二出液口。 作为优选，所述驱动机构包括机架、设于所述机架上驱动电机和丝杆螺母副；所述 丝杆螺母副的丝杆连接于所述驱动电机的输出端，所述丝杆螺母副的螺母与所述汇流块通 过第一连接架连接。 4 CN 111575168 A 说　明　书 2/6 页 作为优选，所述半导体测序装置还包括位置检测机构，所述位置检测机构包括对 射式光电开关和遮光板，所述对射式光电开关和所述遮光板的其中一个设置在所述机架 上，另一个设置在所述第一连接架上，所述遮光板相对运动至所述对射式光电开关的发射 端和接收端之间时，触发所述对射式光电开关产生信号。 作为优选，所述半导体测序装置还包括导向机构，所述导向机构包括设于所述机 架上的导向孔和设于所述汇流块上的导向杆，所述导向杆滑动设于所述导向孔中，所述导 向孔和所述导向杆的轴线方向均与所述驱动机构的驱动方向相一致。 作为优选，所述导向杆与所述导向孔之间通过轴承结构连接，所述轴承结构包括 设于所述导向孔内的轴承座和设于所述轴承座内的轴承，所述导向杆由上至下穿过所述轴 承。 作为优选，所述导向杆的顶部设置限位板，所述限位板能够与所述轴承座相抵接， 进而限制所述导向杆的位移。 作为优选，所述芯片组件还包括芯片座，所述芯片座上依次连通的第一凹槽和第 二凹槽，所述芯片设于所述第二凹槽内；所述芯片与所述压块之间设置第二密封件； 所述压块包括压块主体和凸出所述压块主体设置的延伸体，所述压块主体位于所 述第一凹槽内，所述延伸体至伸入至所述第二凹槽内；所述延伸体的底面上设置第二密封 槽，所述第二密封件设于所述第二密封槽内。 作为优选，所述第二凹槽的侧壁上设置限位台阶，所述延伸体能够与所述限位台 阶相抵接，以限制所述压块的下压距离。 作为优选，所述芯片组件还包括设于所述芯片座底部的电路板，所述芯片设于与 所述电路板接触连接，所述电路板与所述芯片座之间设置第三密封件。 与现有技术相比，本发明的有益效果： 通过驱动机构驱动汇流块向芯片组件靠近，并通过汇流块的第一出液口与压块的 进液通道的连通，汇流块的第一进液口与压块的出液通道之间的连通，实现液体在汇流块 和芯片之间的流动，有助于实现上样过程的自动化、精准化操作，提高测试效率；同时在第 一进液口与出液通道之间、第一出液口与进液通道之间各设置一个第一密封件，使得汇流 块在压设压块的时候，能够压紧第一密封件，实现汇流块与压块之间的良好的密封，保证液 体能够有效进出芯片，且不会泄露发生液体之间的相互掺杂，保证测试结果的准确性。 附图说明 图1为本发明实施例中一种半导体测序装置的整体示意图； 图2为本发明实施例中一种半导体测序装置的后视图； 图3为本发明实施例中一种半导体测序装置的分解示意图； 图4为本发明实施例中一种汇流块的结构示意图； 图5为本发明实施例中芯片组件的分解示意图； 图6为本发明实施例中芯片组件的第一截面示意图； 图7为本发明实施例中压块在第一视角下的结构示意图； 图8为本发明实施例中压块在第一视角下的结构示意图； 图9为本发明实施例中芯片座的结构示意图； 5 CN 111575168 A 说　明　书 3/6 页 图10为本发明实施例中芯片组件的第二截面示意图。 附图标记： 100-半导体测序装置； 10-汇流块；20-芯片组件；30-驱动机构；40-第一密封件； a-进液通道；b-出液通道； 11-第一进液口；12-第一出液口；13-接口；14-管接头；15-导向杆；16-第三连接 架；21-芯片；22-压块；23-芯片座；24-电路板；25-第二密封件；26-第三密封件；27-电极； 28-探针；31-机架；32-驱动电机；33-丝杆；34-螺母；35-第一连接架； 151-限位板；221-第二进液口；222-第二出液口；223-压块主体；224-延伸体；231- 第一凹槽；232-第二凹槽；233-第三密封槽；234-第二通孔；311-导向孔；312-轴承结构； 313-对射式光电开关；314-第二连接架；351-遮光板； 2231-第一密封槽；2232-第一通孔；2233-容纳孔；2241-第二密封槽；2321-限位台 阶；3121-轴承座；3122-轴承。