技术摘要：
本申请适用于计算机测试领域，提供一种基准测试方法、系统及终端设备，其中方法包括：获取模型数据；对所述模型数据进行降位处理，降位处理后，所述模型数据中参数的数据位数降低；根据降位处理后的模型数据生成数据存储图，所述数据存储图包括多个结点和用于表示所述  全部
背景技术：
终端设备中所配备的硬件通常具有理想状态下的运行性能，但硬件在实际运行过 程中又通常会受到各种因素影响而无法达到理想运行状态。因此，在实际应用前通常需要 对终端设备进行性能测试，以提前获知终端设备的实际运行性能状况。 目前，可采用Graph500这一基准测试方法来对终端设备进行性能测试。Graph500 基准测试方法具体利用图论来测量终端设备(尤其是超级计算机)在实际模拟复杂问题时 的数据处理能力。Graph500基准测试方法所采用的基准测试软件在具体执行过程中，需要 先生成图作为性能测试过程中的数据读取对象，在生成图之后，对生成的图进行图遍历操 作，并以每秒遍历图中边的数量(TEPS，traversed  edges  per  second)作为终端设备的数 据处理能力的衡量标准，测试得到的TEPS数值越大，表明图遍历速度越快，也就表明该终端 设备的数据处理能力越高。 但由于基准测试的目的在于用来测量终端设备的硬件实际运行性能，因此，若基 准测试执行过程中图的遍历速度低于终端设备硬件实际运行性能时，则会导致无法准确测 试到被测终端设备的实际运行性能。
技术实现要素：
本申请实施例提供了一种基准测试方法、系统及终端设备，能够解决现有技术中 基准测试执行过程中图的遍历速度较低，导致无法准确测试到被测终端设备的实际运行性 能的问题。 本申请实施例的第一方面提供了一种基准测试方法，应用于终端设备，包括： 获取模型数据； 对所述模型数据进行降位处理，降位处理后，所述模型数据中参数的数据位数降 低； 根据降位处理后的所述模型数据生成数据存储图，所述数据存储图包括多个结点 和用于表示所述多个结点之间的连接关系的多个边； 对所述数据存储图进行图遍历，获得单位时间内完成数据访问的边数。 本申请实施例的第二方面提供了一种基准测试系统，包括： 获取模块，用于获取模型数据； 数据处理模块，用于对所述模型数据进行降位处理，降位处理后，所述模型数据中 参数的数据位数降低； 生成模块，用于根据降位处理后的所述模型数据生成数据存储图，所述数据存储 图包括多个结点和用于表示所述多个结点之间的连接关系的多个边； 图遍历模块，用于对所述数据存储图进行图遍历，获得单位时间内完成数据访问 4 CN 111597096 A 说　明　书 2/9 页 的边数。 本申请实施例的第三方面提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在 所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时 实现如第一方面所述方法的步骤。 本申请实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储 介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述方法的步 骤。 本申请的第五方面提供了一种计算机程序产品，当所述计算机程序产品在终端设 备上运行时，使得所述终端设备执行上述第一方面所述方法的步骤。 由上可见，本申请实施例中，通过对获取的模型数据进行降位处理，根据降位处理 后的模型数据生成数据存储图，并对数据存储图进行图遍历，获得单位时间内完成数据访 问的边数，以完成对终端设备中实际运行性能的基准测试。该过程中，通过对模型数据的降 位处理，使模型数据中所包含参数的数据位数减少，进而使得所生成的数据存储图中各个 结点以及边所表征数据的数据位数同样减少。因此，在进行图遍历时，提升在单位时间内的 图数据读取量，能够增加每秒所遍历的边的数量，提升图遍历速度，从而提升被测终端设备 的实际运行性能的检测准确度。 附图说明 为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述 中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些 实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些 附图获得其他的附图。 图1是本申请实施例提供的一种基准测试方法的流程图一； 图2是本申请实施例提供的数据存储图对应的二维邻接矩阵的示例图； 图3是本申请实施例提供的一种基准测试方法的流程图二； 图4是本申请实施例提供的一种基准测试系统的结构图； 图5是本申请实施例提供的一种终端设备的结构图。