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位置点补偿方法、装置、设备及存储介质


技术摘要:
本发明实施例公开了一种位置点补偿方法、装置、设备及存储介质。该方法包括:获取理论印刷电路板基准点在处理平台坐标系中的理论基准坐标,以及实际印刷电路板上对应基准点在处理平台坐标系中的实际基准坐标;根据所述理论基准坐标以及所述实际基准坐标,确定畸变参数  全部
背景技术:
在印刷电路板的生产制造过程中,层压是其中至关重要的工序。而由于层压工序 的执行,有可能使印刷电路板产生偏移、旋转、涨缩和畸变等问题,并且在基准点制作过程 的钻孔定位误差,或者在钻孔平台放置印刷电路板过程中的位置偏差等问题,会导致印刷 电路板上基准点位置以及其他位置点的变化,影响在印刷电路板上进行钻孔、刻蚀或激光 直写等操作的目标位置确定。 对于上述问题,一般采用的方法为,确定理论基准点和实际基准点的坐标位置,进 而计算出理论基准点到实际基准点的变换矩阵,根据变换矩阵计算印刷电路板上理论位置 点经过变换后的实际位置点, 而目前位置点补偿方法,只能采用固定形状分布的预期光学靶点逼近实际的基准 点,实际的基准点往往构成的是形状不固定的任意四边形,因此,根据目前的位置点补偿方 法得到的补偿结果误差较大,无法精准确定实际位置点的坐标,导致钻孔位置偏移较大。
技术实现要素:
本发明实施例提供一种位置点补偿方法、装置、设备及存储介质,以提高位置点补 偿的准确性和可靠性。 在一个实施例中,本发明实施例提供了一种位置点补偿方法,该方法包括: 获取理论印刷电路板基准点在处理平台坐标系中的理论基准坐标,以及实际印刷 电路板上对应基准点在处理平台坐标系中的实际基准坐标; 根据所述理论基准坐标以及所述实际基准坐标,确定畸变参数; 根据所述畸变参数,确定相同基准点的理论基准坐标与实际基准坐标之间的映射 变换关系,用于对理论印刷电路板上目标位置点进行位置点补偿处理。 在另一个实施例中,本发明实施例还提供了一种位置点补偿装置,该装置包括: 坐标获取模块,用于获取理论印刷电路板基准点在处理平台坐标系中的理论基准 坐标,以及实际印刷电路板上对应基准点在处理平台坐标系中的实际基准坐标; 畸变参数确定模块,用于根据所述理论基准坐标以及所述实际基准坐标,确定畸 变参数; 映射变换关系确定模块,用于根据所述畸变参数,确定相同基准点的理论基准坐 标与实际基准坐标之间的映射变换关系,用于对理论印刷电路板上目标位置点进行位置点 补偿处理。 在又一个实施例中,本发明实施例还提供了一种设备,包括:一个或多个处理器; 存储器,用于存储一个或多个程序; 4 CN 111579561 A 说 明 书 2/9 页 当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理 器实现本发明实施例任一项所述的位置点补偿方法。 在再一个实施例中,本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储 有计算机程序,该程序被处理器执行时实现如本发明实施例中任一项所述的位置点补偿方 法。 本发明实施例中,通过在确定理论基准坐标与实际基准坐标之间映射变换关系 时,引入畸变参数,从而使映射变换关系能够真实反映印刷电路板各种类型的形变,从而提 高位置点补偿的精确度。 附图说明 图1为本发明一种实施例提供的位置点补偿方法的流程图; 图2为本发明一种实施例提供的位置点补偿效果第一示意图; 图3为本发明一种实施例提供的位置点补偿效果第二示意图; 图4为本发明另一实施例提供的位置点补偿方法的流程图; 图5为本发明一种实施例提供的位置点补偿装置结构示意图; 图6为本发明一种实施例提供的一种位置点补偿设备的结构示意图。
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