技术摘要：
本申请提供了一种显示面板、显示屏和电子设备，涉及显示技术领域。显示面板包括层叠设置的第一层结构和第二层结构，第一层结构上设置有第一检测部，第二层结构上设置有第二检测部。其中：电容器包括第一检测部、第二检测部、第一引线和第二引线，第一检测部为电容器的  全部
背景技术：
有机发光二极管(organic  light-emitting  diode，OLED)显示装置，由于具有薄、 轻、宽视角、主动发光、发光颜色连续可调、成本低、响应速度快、能耗小、驱动电压低、工作 温度范围宽、生产工艺简单、发光效率高及可柔性显示等优点，已成为极具发展前景的下一 代显示技术。 空气中的水汽和氧气等成分对OLED显示装置中OLED发光器件的寿命影响很大，这 是因为空气中的水汽和氧气会与OLED发光器件中的功能层发生化学反应，这些化学反应都 会引起OLED发光器件的失效。从而导致OLED发光器件的发光效率的降低，直到无法发光，进 而呈现黑点或者黑斑的现象。 OLED显示装置的黑点或者黑斑的形成，除了由与OLED发光器相对位置的封装层或 者基板的开裂所直接导致的外；显示面板的边缘位置的封装层或者基板开裂到一定程度， 也可能导致水汽和氧气的渗入，从而影响OLED发光器的发光效率，进而形成黑斑。 目前，对于OLED显示面板的边缘位置的封装层或者基板的开裂检测主要是采用基 板中的金属走线(该金属走线的材质通常为Mo)作为检测走线，以利用金属走线开裂前后电 阻的变化来判定封装层或者基板是否产生裂纹。但是，在封装层或者基板出现微裂纹时，金 属走线不会断裂，这样可能不会引起金属走线的电阻发生大幅变化(远小于MΩ级别)，因此 其存在漏检的可能性，但是微小裂纹同样会导致显示装置产生黑斑。另外，由于作为检测走 线的金属走线是采用设置于基板中的金属走线，如果单纯的封装层出现开裂，则无法采用 该方法进行检测。
技术实现要素：
第一方面，本申请技术方案提供了一种显示面板，该显示面板包括层叠设置的第 一层结构和第二层结构，第一层结构上设置有第一检测部，第二层结构上设置有第二检测 部。其中：第一检测部为电容器的第一电极，第一检测部与第一引线直接地或者间接地连 接；第二检测部为电容器的第二电极，第二检测部与第二引线直接地或者间接地连接。电容 器包括第一检测部、第二检测部、第一引线和第二引线，第一检测部与第二检测部之间形成 电容。在本申请实施例中，通过在显示面板中设置电容器，这样可对电容器的两个检测部之 间的电容进行检测，并根据检测到的电容值来判断显示面板有无裂纹，从而实现对显示面 板的是否存在裂纹的检测，其有利于提高应用该显示面板的显示屏的产品良率。 在一种可能的实现方式中，除了在第一检测部与第二检测部之间形成电容外，还 可以同时在第一引线和第二引线之间形成电容。这样可实现对显示面板的用于设置第一引 线和第二引线的区域进行检测，其有利于增大对显示面板的检测面积，从而提高对显示面 板是否存在裂纹的检测准确性。 5 CN 111584552 A 说　明　书 2/15 页 在具体设置第一引线和第二引线时，第一引线和第二引线可延伸至显示面板的绑 定区。之后，可以通过柔性电路板等柔性连接器件将第一引线和第二引线与检测装置的两 个电极端连接，以用于根据检测到的第一检测部与第二检测部之间的电容值，判断显示面 板是否存在裂纹。另外，检测装置可以集成于电子设备已有的芯片，或者也可以单独设置。 在对显示面板是否存在裂纹进行判断时，在本申请一种可能的实现方式中，当第 一检测部与第二检测部之间的电容值大于第一阈值，小于第二阈值时，报告显示面板存在 裂纹；当第一检测部与第二检测部之间的电容值大于第二阈值，小于第一阈值时，报告显示 面板无裂纹；第一阈值大于第二阈值。通过将第一检测部与第二检测部之间的电容值与预 设的第一阈值和第二阈值进行比较，并根据比较结果进行显示面板是否存在裂纹的检测， 其可有效的提高对显示面板的检测精度，从而可提高产品良率。 在一种可能的实现方式中，显示面板可以包括基板、薄膜晶体管层、封装层和触控 层。其中，薄膜晶体管层设置于基板，封装层设置于薄膜晶体管层远离基板的一侧，触控层 位于封装层远离薄膜晶体管层的一侧。在该实现方式中，可以将第一检测部设置于基板的 相邻的两个层结构之间，第二检测部设置于触控层的相邻的两个层结构之间。采用该实现 方式，可以使基板的部分、薄膜晶体管层的全部、封装层的全部以及触控层的部分设置于第 一检测部与第二检测部之间，从而可在基板、封装层以及触控层中的一个或者多个结构出 现裂纹时，都可以导致两检测部之间的电容的容值发生变化，进而可有效的提高检测精度。 在一种可能的实现方式中，显示面板可以包括基板、薄膜晶体管层和封装层，薄膜 晶体管层设置于基板，封装层设置于薄膜晶体管层远离基板的一侧。在该实现方式中，可以 将第一检测部设置于基板的相邻的两个层结构之间，第二检测部设置于封装层的相邻的两 个层结构之间。采用该实现方式，可以使基板的部分、薄膜晶体管层的全部、封装层的部分 设置于第一检测部与第二检测部之间，从而可在基板、封装层中的一个或者多个结构出现 裂纹时，都可以导致两检测部之间的电容的容值发生变化，进而可有效的提高检测精度。 由于显示面板的断裂通常发生在无机层，在一种可能的实现方式中，可在第一检 测部与薄膜晶体管层之间存在至少一个无机层，这样在该无机层发生断裂时，第一检测部 与第二检测部之间的介质的介电常数发生变化，从而可导致两个检测部之间的电容改变， 进而实现对显示面板是否存在裂纹的检测。 另外第一检测部还可以设置于基板的无机层上，并且第一检测部可由脆性材料形 成。这样在用于设置第一检测部的无机层出现裂纹时，可能导致设置于其上的第一检测部 断裂，以使第一检测部与第二检测部之间的正对面积发生变化，从而影响第一检测部与第 二检测部之间的电容的容值。示例性的，第一检测部可与栅极同层设置，并且第一检测部还 可以与栅极通过一次掩膜工艺形成。这样可为第一检测部的制作提供便利性，从而可有效 的降低加工成本。 在一种可能的实现方式中，第一检测部可绕显示面板的边缘区域进行设置，第一 检测部可为一闭合图形，从而实现对整个面板的边缘区域的检测。或者，第一检测部也可由 断开的两部分或两部分以上构成，以提高对裂纹出现的位置的检测精度。第一检测部的设 置位置可根据显示面板的检测位置进行调整，显示面板的哪个位置需要被检测，则将第一 检测线设置于显示面板的对应位置即可。 在具体设置第二检测部时，第二检测部在第一检测部方向上的投影部分或者全部 6 CN 111584552 A 说　明　书 3/15 页 落在第一检测部的设置范围内。以使第一检测部与第二检测部之间存在正对面积，从而在 第一检测部与第二检测部之间形成电容。 另外，第二检测部也可绕显示面板的边缘区域进行设置，第二检测部为一闭合图 形，从而实现对整个面板的边缘区域的检测。或者，第二检测部由断开的两部分或两部分以 上构成，以提高对裂纹出现的位置的检测精度。 第二方面，本申请技术方案还提供了一种显示面板，该显示面板包括基板、薄膜晶 体管层、封装层和触控层，其中：基板设置有第一检测部，第一检测部与显示面板的栅极同 层设置，且第一检测部与栅极通过一次掩膜工艺形成，这样可为第一检测部的制作提供便 利性，从而可有效的降低加工成本。薄膜晶体管层设置于基板；封装层设置于薄膜晶体管层 远离基板的一侧；触控层位于封装层远离薄膜晶体管层的一侧，触控层的触控缓冲层和触 控介质层之间设置有第二检测部。 第一检测部，为电容器的第一电极，第一检测部与第一引线直接地或者间接地连 接；第二检测部，为电容器的第二电极，第二检测部与第二引线直接地或者间接地连接。通 过在显示面板中设置电容器，这样可对电容器的两个检测部之间的电容进行检测，并根据 检测到的电容值来判断显示面板有无裂纹，从而实现对显示面板的是否存在裂纹的检测， 其有利于提高应用该显示面板的显示屏的产品良率。 电容器包括第一检测部、第二检测部、第一引线和第二引线，第一检测部与第二检 测部之间形成电容，第一引线与第二引线之间形成电容；第一检测部绕显示面板的边缘区 域设置，第一检测部为一闭合图形，第一检测部与两个第一引线连接；第二检测部绕显示面 板的边缘区域设置，第二检测部由断开的两部分构成，每一部分与一个第二引线连接，这样 可分别对显示面板的设置有该两部分第二检测线的区域进行检测，以提高对裂纹出现的位 置的检测精度。第二检测部在第一检测部方向上的投影部分或者全部落在第一检测部的设 置范围内，以使第一检测部与第二检测部之间存在正对面积，从而在第一检测部与第二检 测部之间形成电容。 第一引线和第二引线延伸至显示面板的绑定区，且分别用于与检测装置的两个电 极端连接，用于根据检测到的第一检测部与第二检测部之间的电容值，判断显示面板是否 存在裂纹；当第一检测部与第二检测部之间的电容值大于第一阈值，小于第二阈值时，报告 显示面板存在裂纹；当第一检测部与第二检测部之间的电容值大于第二阈值，小于第一阈 值时，报告显示面板无裂纹；第一阈值大于第二阈值。 本申请实施例的显示面板，通过在显示面板中设置电容器，可对电容器的两个检 测部之间的电容进行检测，并根据检测到的电容值来判断显示面板有无裂纹，从而实现对 显示面板的是否存在裂纹的检测，其有利于提高应用该显示面板的显示屏的产品良率。 第三方面，本申请技术方案还提供了一种显示屏，该显示屏包括层叠设置的保护 盖板、偏光片、散热层，以及第一方面的显示面板。其中：偏光片固定于保护盖板，显示面板 设置于偏光片与散热层之间。 采用本申请实施例的显示屏，通过在其显示面板中设置电容器，可对电容器的两 个检测部之间的电容进行检测，并根据检测到的电容值来判断显示面板有无裂纹，从而实 现对显示面板的是否存在裂纹的检测，进而可提高该显示屏的产品良率。 第四方面，本申请技术方案还提供了一种显示屏，该显示屏包括显示面板，该显示 7 CN 111584552 A 说　明　书 4/15 页 面板包括层叠设置的第一层结构和第二层结构，第一层结构上设置有第一检测部，第二层 结构上设置有第二检测部。其中：第一检测部为电容器的第一电极，第一检测部与第一引线 直接地或者间接地连接；第二检测部为电容器的第二电极，第二检测部与第二引线直接地 或者间接地连接。电容器包括第一检测部、第二检测部、第一引线和第二引线，第一检测部 与第二检测部之间形成电容。在本申请实施例中，通过在显示面板中设置电容器，这样可对 电容器的两个检测部之间的电容进行检测，并根据检测到的电容值来判断显示面板有无裂 纹，从而实现对显示面板的是否存在裂纹的检测，其有利于提高应用该显示面板的显示屏 的产品良率。 在一种可能的实现方式中，除了在第一检测部与第二检测部之间形成电容外，还 可以同时在第一引线和第二引线之间形成电容。这样可实现对显示面板的用于设置第一引 线和第二引线的区域进行检测，其有利于增大对显示面板的检测面积，从而提高对显示面 板是否存在裂纹的检测准确性。 在具体设置第一引线和第二引线时，第一引线和第二引线可延伸至显示面板的绑 定区。之后，可以通过柔性电路板等柔性连接器件将第一引线和第二引线与检测装置的两 个电极端连接，以用于根据检测到的第一检测部与第二检测部之间的电容值，判断显示面 板是否存在裂纹。另外，检测装置可以集成于电子设备已有的芯片，或者也可以单独设置。 在对显示面板是否存在裂纹进行判断时，在本申请一种可能的实现方式中，当第 一检测部与第二检测部之间的电容值大于第一阈值，小于第二阈值时，报告显示面板存在 裂纹；当第一检测部与第二检测部之间的电容值大于第二阈值，小于第一阈值时，报告显示 面板无裂纹；第一阈值大于第二阈值。通过将第一检测部与第二检测部之间的电容值与预 设的第一阈值和第二阈值进行比较，并根据比较结果进行显示面板是否存在裂纹的检测， 其可有效的提高对显示面板的检测精度，从而可提高产品良率。 在一种可能的实现方式中，显示面板可以包括基板、薄膜晶体管层、封装层和触控 层。其中，薄膜晶体管层设置于基板，封装层设置于薄膜晶体管层远离基板的一侧，触控层 位于封装层远离薄膜晶体管层的一侧。在该实现方式中，可以将第一检测部设置于基板的 相邻的两个层结构之间，第二检测部设置于触控层的相邻的两个层结构之间。采用该实现 方式，可以使基板的部分、薄膜晶体管层的全部、封装层的全部以及触控层的部分设置于第 一检测部与第二检测部之间，从而可在基板、封装层以及触控层中的一个或者多个结构出 现裂纹时，都可以导致两检测部之间的电容的容值发生变化，进而可有效的提高检测精度。 在一种可能的实现方式中，显示面板可以包括基板、薄膜晶体管层和封装层，薄膜 晶体管层设置于基板，封装层设置于薄膜晶体管层远离基板的一侧。在该实现方式中，可以 将第一检测部设置于基板的相邻的两个层结构之间，第二检测部设置于封装层的相邻的两 个层结构之间。采用该实现方式，可以使基板的部分、薄膜晶体管层的全部、封装层的部分 设置于第一检测部与第二检测部之间，从而可在基板、封装层中的一个或者多个结构出现 裂纹时，都可以导致两检测部之间的电容的容值发生变化，进而可有效的提高检测精度。 由于显示面板的断裂通常发生在无机层，在一种可能的实现方式中，可在第一检 测部与薄膜晶体管层之间存在至少一个无机层，这样在该无机层发生断裂时，第一检测部 与第二检测部之间的介质的介电常数发生变化，从而可导致两个检测部之间的电容改变， 进而实现对显示面板是否存在裂纹的检测。 8 CN 111584552 A 说　明　书 5/15 页 另外第一检测部还可以设置于基板的无机层上，并且第一检测部可由脆性材料形 成。这样在用于设置第一检测部的无机层出现裂纹时，可能导致设置于其上的第一检测部 断裂，以使第一检测部与第二检测部之间的正对面积发生变化，从而影响第一检测部与第 二检测部之间的电容的容值。示例性的，第一检测部可与栅极同层设置，并且第一检测部还 可以与栅极通过一次掩膜工艺形成。这样可为第一检测部的制作提供便利性，从而可有效 的降低加工成本。 在一种可能的实现方式中，第一检测部可绕显示面板的边缘区域进行设置，第一 检测部可为一闭合图形，从而实现对整个面板的边缘区域的检测。或者，第一检测部也可由 断开的两部分或两部分以上构成，以提高对裂纹出现的位置的检测精度。第一检测部的设 置位置可根据显示面板的检测位置进行调整，显示面板的哪个位置需要被检测，则将第一 检测线设置于显示面板的对应位置即可。 在具体设置第二检测部时，第二检测部在第一检测部方向上的投影部分或者全部 落在第一检测部的设置范围内。以使第一检测部与第二检测部之间存在正对面积，从而在 第一检测部与第二检测部之间形成电容。 另外，第二检测部也可绕显示面板的边缘区域进行设置，第二检测部为一闭合图 形，从而实现对整个面板的边缘区域的检测。或者，第二检测部由断开的两部分或两部分以 上构成，以提高对裂纹出现的位置的检测精度。 第五方面，本申请技术方案还提供了一种电子设备，该电子设备包括中框、后壳， 印制电路板以及第三方面的显示屏，其中：中框，用于承载印制电路板和柔性显示屏，印刷 电路板和柔性显示屏位于中框的两侧；后壳，位于印制电路板远离中框的一侧。 在该电子设备中，通过在其显示屏的显示面板中设置电容器，可对电容器的两个 检测部之间的电容进行检测，并根据检测到的电容值来判断显示面板有无裂纹，从而实现 对显示面板的是否存在裂纹的检测，以提高该显示屏的产品良率，进而可提高电子设备的 产品良率。 第六方面，本申请技术方案还提供了一种电子设备，该电子设备包括中框、后壳， 印制电路板以及显示屏，显示屏包括显示面板。该显示面板包括层叠设置的第一层结构和 第二层结构，第一层结构上设置有第一检测部，第二层结构上设置有第二检测部。其中：第 一检测部为电容器的第一电极，第一检测部与第一引线直接地或者间接地连接；第二检测 部为电容器的第二电极，第二检测部与第二引线直接地或者间接地连接。电容器包括第一 检测部、第二检测部、第一引线和第二引线，第一检测部与第二检测部之间形成电容。在本 申请实施例中，通过在显示面板中设置电容器，这样可对电容器的两个检测部之间的电容 进行检测，并根据检测到的电容值来判断显示面板有无裂纹，从而实现对显示面板的是否 存在裂纹的检测，其有利于提高应用该显示面板的显示屏的产品良率。 在一种可能的实现方式中，除了在第一检测部与第二检测部之间形成电容外，还 可以同时在第一引线和第二引线之间形成电容。这样可实现对显示面板的用于设置第一引 线和第二引线的区域进行检测，其有利于增大对显示面板的检测面积，从而提高对显示面 板是否存在裂纹的检测准确性。 在具体设置第一引线和第二引线时，第一引线和第二引线可延伸至显示面板的绑 定区。之后，可以通过柔性电路板等柔性连接器件将第一引线和第二引线与检测装置的两 9 CN 111584552 A 说　明　书 6/15 页 个电极端连接，以用于根据检测到的第一检测部与第二检测部之间的电容值，判断显示面 板是否存在裂纹。另外，检测装置可以集成于电子设备已有的芯片，或者也可以单独设置。 在对显示面板是否存在裂纹进行判断时，在本申请一种可能的实现方式中，当第 一检测部与第二检测部之间的电容值大于第一阈值，小于第二阈值时，报告显示面板存在 裂纹；当第一检测部与第二检测部之间的电容值大于第二阈值，小于第一阈值时，报告显示 面板无裂纹；第一阈值大于第二阈值。通过将第一检测部与第二检测部之间的电容值与预 设的第一阈值和第二阈值进行比较，并根据比较结果进行显示面板是否存在裂纹的检测， 其可有效的提高对显示面板的检测精度，从而可提高产品良率。 在一种可能的实现方式中，显示面板可以包括基板、薄膜晶体管层、封装层和触控 层。其中，薄膜晶体管层设置于基板，封装层设置于薄膜晶体管层远离基板的一侧，触控层 位于封装层远离薄膜晶体管层的一侧。在该实现方式中，可以将第一检测部设置于基板的 相邻的两个层结构之间，第二检测部设置于触控层的相邻的两个层结构之间。采用该实现 方式，可以使基板的部分、薄膜晶体管层的全部、封装层的全部以及触控层的部分设置于第 一检测部与第二检测部之间，从而可在基板、封装层以及触控层中的一个或者多个结构出 现裂纹时，都可以导致两检测部之间的电容的容值发生变化，进而可有效的提高检测精度。 在一种可能的实现方式中，显示面板可以包括基板、薄膜晶体管层和封装层，薄膜 晶体管层设置于基板，封装层设置于薄膜晶体管层远离基板的一侧。在该实现方式中，可以 将第一检测部设置于基板的相邻的两个层结构之间，第二检测部设置于封装层的相邻的两 个层结构之间。采用该实现方式，可以使基板的部分、薄膜晶体管层的全部、封装层的部分 设置于第一检测部与第二检测部之间，从而可在基板、封装层中的一个或者多个结构出现 裂纹时，都可以导致两检测部之间的电容的容值发生变化，进而可有效的提高检测精度。 由于显示面板的断裂通常发生在无机层，在一种可能的实现方式中，可在第一检 测部与薄膜晶体管层之间存在至少一个无机层，这样在该无机层发生断裂时，第一检测部 与第二检测部之间的介质的介电常数发生变化，从而可导致两个检测部之间的电容改变， 进而实现对显示面板是否存在裂纹的检测。 另外第一检测部还可以设置于基板的无机层上，并且第一检测部可由脆性材料形 成。这样在用于设置第一检测部的无机层出现裂纹时，可能导致设置于其上的第一检测部 断裂，以使第一检测部与第二检测部之间的正对面积发生变化，从而影响第一检测部与第 二检测部之间的电容的容值。示例性的，第一检测部可与栅极同层设置，并且第一检测部还 可以与栅极通过一次掩膜工艺形成。这样可为第一检测部的制作提供便利性，从而可有效 的降低加工成本。 在一种可能的实现方式中，第一检测部可绕显示面板的边缘区域进行设置，第一 检测部可为一闭合图形，从而实现对整个面板的边缘区域的检测。或者，第一检测部也可由 断开的两部分或两部分以上构成，以提高对裂纹出现的位置的检测精度。第一检测部的设 置位置可根据显示面板的检测位置进行调整，显示面板的哪个位置需要被检测，则将第一 检测线设置于显示面板的对应位置即可。 在具体设置第二检测部时，第二检测部在第一检测部方向上的投影部分或者全部 落在第一检测部的设置范围内。以使第一检测部与第二检测部之间存在正对面积，从而在 第一检测部与第二检测部之间形成电容。 10 CN 111584552 A 说　明　书 7/15 页 另外，第二检测部也可绕显示面板的边缘区域进行设置，第二检测部为一闭合图 形，从而实现对整个面板的边缘区域的检测。或者，第二检测部由断开的两部分或两部分以 上构成，以提高对裂纹出现的位置的检测精度。 在该电子设备中，通过在其显示屏的显示面板中设置电容器，可对电容器的两个 检测部之间的电容进行检测，并根据检测到的电容值来判断显示面板有无裂纹，从而实现 对显示面板的是否存在裂纹的检测，以提高该显示屏的产品良率，进而可提高电子设备的 产品良率。 第七方面，本申请技术方案还提供了一种显示面板的检测方法，显示面板包括两 个或两个以上叠置的层结构，显示面板的一个层结构上设置有第一检测部，另一个层结构 上设置有第二检测部，检测方法包括： 通过容值采集电路对第一检测部与第二检测部之间的电容进行采集； 将采集到的电容的容值转换为压力值； 通过A/D转换器将压力值由模拟信号转换成数字信号； 通过处理器将接收到的数字信号与设定的阈值进行比较； 当处理器接收到的数字信号大于第一阈值，小于第二阈值时，产生报警，报告显示 面板存在裂纹； 当接收到的数字信号大于第二阈值，小于第一阈值时，报告显示面板无裂纹；第一 阈值大于第二阈值。 采用本申请实施例的显示面板的检测方法，可通过对设置于显示面板的不同层结 构中的第一检测部和第二检测部之间的电容的容值与设定的阈值范围进行比较，来实现对 显示面板是否出现裂纹进行检测。采用该检测方法，可有效的提高对显示面板的检测精度， 从而提高产品良率。 在一种可能的实现方式中，在通过容值采集电路对所述第一检测部与所述第二检 测部之间的电容进行采集之前，该检测方法还可以通过激励信号发生器产生高频振荡信 号，以作为对显示面板的第一检测部与第二检测部之间的电容进行采集的信号源。 另外，在本申请一个可能的实现方式中，在将采集到的电容的容值转换为压力值 之后，通过A/D转换器将压力值由模拟信号转换成数字信号之前，显示面板的检测方法还可 以包括：通过放大器对转换得到的压力值的信号幅值进行放大。这样可以实现对压力值的 抗干扰处理，从而有利于提高检测的准确性。 附图说明 图1为本申请实施例提供的电子设备的结构示意图； 图2为本申请实施例提供的柔性显示屏的结构示意图； 图3为一种实施例提供的显示面板的结构示意图； 图4为一种实施例提供的显示面板的俯视图； 图5为本申请一实施例提供的显示面板的结构示意图； 图6为本申请一实施例提供的显示面板的俯视图； 图7为本申请另一实施例提供的显示面板的结构示意图； 图8为本申请一实施例提供的第一检测线的俯视图； 11 CN 111584552 A 说　明　书 8/15 页 图9为本申请另一实施例提供的第一检测线的俯视图； 图10为本申请另一实施例提供的第一检测线的俯视图； 图11a为本申请另一实施例提供的第一检测线的俯视图； 图11b为本申请另一实施例提供的第二检测线的俯视图； 图12为本申请另一实施例提供的显示面板的俯视图； 图13为本申请另一实施例提供的显示面板的俯视图； 图14为本申请另一实施例提供的显示面板的俯视图； 图15为本申请一实施例提供的检测装置的结构示意图； 图16为本申请一实施例提供的显示面板的检测方法流程图。 附图标记： 101-显示屏；102-中框；103-后壳；104-PCB；1041-元器件；1041a-驱动芯片； 1041b-集成电路芯片；201-保护盖板；202-偏光片；203-显示面板；204-散热层； 205-保护层；301-基板；302-无机层；303-金属走线；401-连接端；402-绑定区； 501-第一检测线；502-第二检测线；503-封装层；504-触控层；5041-触控缓冲层； 5042-触控介质层；601-第一引出线；602-第二引出线；1301-基板； 1501-激励信号发生器；1502-容值采集电路；1503-放大器；1504-A/D转换器； 1505-接口电路；15051-数据接口。