技术摘要：
本发明提供一种高精度的3D识别计算方法及系统，方法包括：光线发射端预先设置D点为检测基准点,以D点设置第一基准面，第一基准面中设置基准图形；光线发射端以一定的角度发射光束到被识别端，D点的投射点为D'点；以D'点建立第二基准面，第二基准面平行于第一基准面，得 全部
背景技术：
随着AR技术的发展，3D识别技术也逐渐应用到人们的生活中来。目前3D识别存在 芯片制作难度大，软件算法成型复杂，且存在识别率不精准的问题，对于小范围内的凹凸识 别较差。
技术实现要素：
鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明提供一种高精度的3D识别计算方法及系 统，以解决上述技术问题。 本发明提供的高精度的3D识别计算方法，包括： 光线发射端预先设置D点为检测基准点,以所述D点设置第一基准面，所述第一基准面 中设置基准图形； 光线发射端以一定的角度发射光束到被识别端，所述 D点的投射点为D'点； 以所述D'点建立第二基准面，所述第二基准面平行于所述第一基准面，得到SDD'，所述 SDD'为所述D点到所述D'点的距离，所述基准图形投射到第二基准面得到的投射图形为检测 图形，采集所述检测图形。 可选的，还包括：所述光线发射端预先设置多个基准点，同时投射到所述被识别端 的不同区域，采集多个所述检测图形。 可选的，还包括：将多个所述检测图形进行拼接处理。 可选的，所述基准图像的设置方式为DOE分光设计或芯片阵列设计。 可选的，所述被识别端为生物识别端或物理识别端。 可选的，所述光线发射端为红外发射器或摄像器。 可选的，所述基准图形为任意图形。 本发明还提供一种高精度的3D识别系统，包括： 光线发射端，用于设置D点为检测基准点,以所述D点设置第一基准面，所述第一基准面 中设置基准图形，以一定的角度发射光束到被识别端， 所述D点的投射点为D'点； 图形计算模块，用于以所述D'点建立第二基准面，所述第二基准面平行于所述第一基 准面，得到SDD'，所述SDD'为所述D点到所述D'点的距离，所述基准图形投射到第二基准面得 到的投射图形为检测图形； 采集模块，采集所述检测图形； 拼接处理模块，用于将多个所述检测图形进行拼接处理。 本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理 器执行时实现上述任一项所述方法。 本发明还提供一种电子终端，包括：处理器及存储器；所述存储器用于存储计算机 3 CN 111553306 A 说 明 书 2/4 页 程序，所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序，以使所述终端执行上述任一项 所述方法。 本发明的有益效果：本发明加入了检测基准点，以检测基准点设置第一基准面，第 一基准面中设置基准图形，以检测基准点在被识别端的投射点建立与第一基准面平行的第 二基准面，得到检测图形，并将不同区域识别的检测图形进行拼接，更精细地识别小范围内 的表面凹凸，有效提高微小区域的识别精确度。 附图说明 图1为本发明提供的高精度的3D识别计算方法的基本流程示意图。 图2为本发明提供高精度的3D识别计算方法的详细流程示意图。
本发明提供一种高精度的3D识别计算方法及系统，方法包括：光线发射端预先设置D点为检测基准点,以D点设置第一基准面，第一基准面中设置基准图形；光线发射端以一定的角度发射光束到被识别端，D点的投射点为D'点；以D'点建立第二基准面，第二基准面平行于第一基准面，得 全部
背景技术：
随着AR技术的发展，3D识别技术也逐渐应用到人们的生活中来。目前3D识别存在 芯片制作难度大，软件算法成型复杂，且存在识别率不精准的问题，对于小范围内的凹凸识 别较差。
技术实现要素：
鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明提供一种高精度的3D识别计算方法及系 统，以解决上述技术问题。 本发明提供的高精度的3D识别计算方法，包括： 光线发射端预先设置D点为检测基准点,以所述D点设置第一基准面，所述第一基准面 中设置基准图形； 光线发射端以一定的角度发射光束到被识别端，所述 D点的投射点为D'点； 以所述D'点建立第二基准面，所述第二基准面平行于所述第一基准面，得到SDD'，所述 SDD'为所述D点到所述D'点的距离，所述基准图形投射到第二基准面得到的投射图形为检测 图形，采集所述检测图形。 可选的，还包括：所述光线发射端预先设置多个基准点，同时投射到所述被识别端 的不同区域，采集多个所述检测图形。 可选的，还包括：将多个所述检测图形进行拼接处理。 可选的，所述基准图像的设置方式为DOE分光设计或芯片阵列设计。 可选的，所述被识别端为生物识别端或物理识别端。 可选的，所述光线发射端为红外发射器或摄像器。 可选的，所述基准图形为任意图形。 本发明还提供一种高精度的3D识别系统，包括： 光线发射端，用于设置D点为检测基准点,以所述D点设置第一基准面，所述第一基准面 中设置基准图形，以一定的角度发射光束到被识别端， 所述D点的投射点为D'点； 图形计算模块，用于以所述D'点建立第二基准面，所述第二基准面平行于所述第一基 准面，得到SDD'，所述SDD'为所述D点到所述D'点的距离，所述基准图形投射到第二基准面得 到的投射图形为检测图形； 采集模块，采集所述检测图形； 拼接处理模块，用于将多个所述检测图形进行拼接处理。 本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理 器执行时实现上述任一项所述方法。 本发明还提供一种电子终端，包括：处理器及存储器；所述存储器用于存储计算机 3 CN 111553306 A 说 明 书 2/4 页 程序，所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序，以使所述终端执行上述任一项 所述方法。 本发明的有益效果：本发明加入了检测基准点，以检测基准点设置第一基准面，第 一基准面中设置基准图形，以检测基准点在被识别端的投射点建立与第一基准面平行的第 二基准面，得到检测图形，并将不同区域识别的检测图形进行拼接，更精细地识别小范围内 的表面凹凸，有效提高微小区域的识别精确度。 附图说明 图1为本发明提供的高精度的3D识别计算方法的基本流程示意图。 图2为本发明提供高精度的3D识别计算方法的详细流程示意图。
