技术摘要：
本发明提供一种下料设备及纳米晶材料检测系统，其中，下料设备包括：收料机构，用于收集经检测后的纳米晶材料；机械手，所述机械手用于将检测后的所述纳米晶材料搬运至所述收料机构，所述机械手包括：吸附装置，所述吸附装置用于吸附所述纳米晶材料，所述吸附装置的底  全部
背景技术：
目前纳米晶材料经过检测后，通过人工将纳米材料进行装盘，浪费人力，效率低且 容易污染纳米晶材料。
技术实现要素：
有鉴于此，本发明提供一种下料设备及纳米晶材料检测系统，能够自动化地同时 进行多片下料，效率高、节省人力且避免产品污染。 为解决上述技术问题，一方面，本发明提供一种下料设备，用于将经检测后的纳米 晶材料进行下料，包括： 收料机构，用于收集经检测后的纳米晶材料； 机械手，所述机械手用于将检测后的所述纳米晶材料搬运至所述收料机构，所述 机械手包括： 吸附装置，所述吸附装置用于吸附所述纳米晶材料，所述吸附装置的底端间隔开 地设置有多个吸盘，以同时吸附多片纳米晶材料； 运转装置，所述运转装置连接所述吸附装置，用于带动所述吸附装置运动。 进一步地，所述吸附装置设置有两个吸盘； 所述下料设备还包括： 缓存平台，所述缓存平台与所述机械手取料位置相邻，用于存放连续的两片产品 中只有一片是检测合格的纳米晶材料。 进一步地，所述运转装置包括： 底座，所述底座的顶端设置有第一旋转轴； 第一旋转臂，所述第一旋转臂的一端与所述第一旋转轴旋转连接，所述第一旋转 臂的另一端设置有第二旋转轴； 第二旋转臂，所述第二旋转臂的一端与所述第二旋转轴旋转连接，所述第二旋转 臂的另一端设置有第三旋转轴，以及连接所述第三旋转轴的升降轴，所述升降轴连接所述 吸附装置。 进一步地，所述收料机构包括两个，其中一个用于收集检测合格的纳米晶材料另 一个用于收集检测不合格的纳米晶材料。 进一步地，所述收料机构包括： 第一承载支架，用于承载空料盘； 第二承载支架，所述第二承载支架与所述第一承载支架相邻设置，所述第二承载 支架承载用于接收纳米晶材料的料盘； 4 CN 111589739 A 说　明　书 2/6 页 料盘传输装置，所述料盘传输装置用于从第一承载支架取出空料盘放置在第二承 载支架上。 进一步地，所述收料机构还包括： 第一电机，所述第一电机与所述第一承载支架相连，以驱动所述第一承载支架进 行升降运动，进而使得料盘进行升降运动。 进一步地，其中，用于收集检测合格的纳米晶材料的所述收料机构还包括： 底部传输装置，所述底部传输装置设置在所述第二传输支架的下部，包括输送带， 以及驱动传输带进行运动的第二电机； 升降装置，所述升降装置设置在所述底部传输装置的上方，用于从所述第二承载 支架的底部取出料盘并放置在所述底部传输装置上。 进一步地，其中，用于收集检测不合格的纳米晶材料的所述收料机构还包括： 第三电机，所述第三电机与所述第二承载支架相连，以驱动所述第二承载支架进 行升降运动，进而使得料盘进行升降运动。 进一步地，所述第一承载支架和所述第二承载支架为可抽拉结构。 另一方面，本发明提供一种纳米晶材料检测系统，包括上述任一所述的下料设备。 本发明的上述技术方案至少具有如下有益效果之一： 根据本发明的下料设备，包括收料机构和机械手，所述吸附装置的底端间隔开地 设置有多个吸盘，能够自动化地同时进行多片下料，效率高，且过程中避免了手去触摸纳米 晶材料，能够避免产品污染。 附图说明 图1为根据本发明一实施例的下料设备的结构示意图； 图2为图1中的运转装置的结构示意图； 图3为图1中的吸附装置的结构示意图； 图4为图1中的A收料机构的结构示意图； 图5为图1中的B收料机构的结构示意图。 附图标记： 100’、A收料机构；110’、A第一承载支架；120’、A第二承载支架；130’、A料盘传输装 置；140’、A第一电机；150’、第三电机；100”、B收料机构；110”、B第一承载支架；120”、B第二 承载支架；130”、B料盘传输装置；140”、B第一电机；150”、升降装置；160”、底部传输装置； 200、机械手；210、运转装置；211、底座；212、第一旋转轴；213、第一旋转臂；214、第二旋转 轴；215、第二旋转臂；216、第三旋转轴；217、升降轴；220、吸附装置；221、吸盘。