技术摘要：
用于测量表面形貌的设备和方法以及校准方法。本发明涉及用于测量物体（12）的光学有效面（18）的形貌和/或梯度和/或曲率的方法和设备（10）。该设备（10）能够实现以能够贴靠在该物体（12）上的接触部（17）将该物体（12）安排在接收范围（14）内。在该设备（10）中具  全部
背景技术：
US  4,998,819公开了一种用于测量物体的形貌的设备，在其中借助大量安排在球 表面区段的内侧上的发光二极管在物体的表面产生反射，这些反射通过光电探测器进行采 集然后进行评估。 用于测量构成为眼镜镜片的物体的光学有效面的形貌和/或梯度和/或曲率的设 备例如在DE  10  2013  208  091  A1和DE  10  2013  219  838  A1中进行了描述。为算出物体的 空间结构，将其安排在夹持装置中。然后由大量点光源提供光，光反射到物体的光学有效面 上。在用于测量形貌和/或梯度和/或曲率的设备中，通过相机采集由点光源的光引起的亮 度分布并且借助计算机程序进行评估。该计算机程序针对每个借助相机采集的、物体表面 上的点的光束和点光源的已知位置计算在该点上的表面法线并且由此通过积分和插补然 后计算光学有效面的所需要的形貌。 从DE  10  2011  010  252  A1中已知一种具有可移动的图像传感器的相机，该图像 传感器能够在相机的光轴的方向上移位。 US  2006/0017720  A1公布了一种用于测量光漫散射到的表面的系统，其方式为借 助扫描仪用光束扫描该表面，这些光束在该表面上产生模型，然后通过相机对该模型进行 采集。通过评估模型的由待测量的表面形成的形状以及扫描仪与相机之间的相对位置，然 后系统就能够给出待测量的表面所需要的走向。
技术实现要素：
本发明的目的在于，提供一种设备和一种方法，用于以小的相对误差精确地局部 测量物体的光学有效面的形貌和/或梯度和/或曲率，例如以仅在百分比范围内的或更小的 相对误差。 尤其，本发明的目的在于，给出一种设备和一种方法，用于以至少10-2  dpt的绝对 精度测量光学有效面的局部曲率走向。 此目的通过独立权利要求中给出的用于测量物体、尤其眼镜镜片的光学有效面的 形貌和/或梯度和/或曲率的方法和设备实现，并且通过独立权利要求中给出的用于校准用 于测量物体的光学有效面的形貌和/或梯度和/或曲率的设备的方法实现。 3 CN 111595269 A 说　明　书 2/21 页 本发明的有利的实施方式在从属权利要求中给出。 在本发明的范围中，点光源应理解为这样的光源，即其范围如此小，即使得该光源 从位于接收范围内的点看出去基本上呈现点状，也就是说，参考位于接收范围内的一个点， 该光源例如仅覆盖住了尺寸ΩP ≤  0.5%  sr或ΩP ≤  0.3%  sr或ΩP ≤  0.1%  sr或优选尺 寸ΩP ≤  0.05%  sr的立体角ΩP。这样的点光源能够构成为发光二极管（LED），例如构成为 所谓的SMD发光二极管。 然而在本发明的范围内中，点光源也能够构成为光导体的安排在多面体表面中的 端部。但是在本发明的范围内中，点光源也能够为遮蔽屏中的孔，该孔对应有一个或多个背 景光。在本发明的范围内中，点光源用于通过光点照亮待测量物体的光学有效面。 本发明基于这样的思想，即通过采集关于物体的表面多个点的位置的信息不仅可 以非常精确地算出物体的表面的曲率，还能非常精确地算出其形貌，方法是在计算机单元 中通过计算机程序使用算法处理采集到的位置。 在此本发明的一个主题思想是，使用迭代算法处理采集到的信息并且从而大大提 高物体测量的测量精度。此外本发明的一个主题思想是，将使用迭代算法的计算转移到位 于世界上任意地方的中央高性能计算机上（远程计算），以便以这种方式能够迅速地、即在 数秒之内执行物体的光学有效面的形貌和/或梯度和/或曲率的测量。在本发明的范围内， 在相应的算法中还能够使用外部的光线追踪程序，例如新思科技公司（690  East  Middlefield  Road,  Mountain  View,  California  94043  USA）的CODE  V ® 程序或者Zemax  LLC公司（10230  NE  Points  Dr.  Suite  540,  Kirkland ,  Washington  (State)  98033,  USA）的Zemax ® 程序。该措施使得尤其能够减少所需的计算时间。本发明的一个主题思想还 在于，用于处理在物体的表面的大量点上采集到的信息的迭代算法还能够转移到显卡处理 器（GPU）上。该措施同样导致计算时间减少。 通过将相机的图像传感器安排成可沿着穿过物镜组件的调节轴线线性移动式位 移，能够实现，可通过测量测试对象非常精确地校准设备。 本发明因此尤其能够实现以至少10-2  dpt的精度测量非球面的折射能力。此外，本 发明还能够实现凹形的和凸形的自由曲面的形貌的测量。尤其地，本发明能够实现在直径 最大为80  mm的物体尺寸的情况下平均半径介于-50  mm  -  -1000  mm和 50  mm  -  1000  mm 之间的非球面透镜的测量，以及局部和整体折射能力和形貌的测量。发明人已经证明，通过 本发明可行的是，在使用上述远程计算时在不超过10秒的时间间隔内测量自由曲面。 根据本发明的在点光源中的用于测量物体的光学有效面的形貌和/或梯度和/或 曲率的设备优选安排在邻接三维的半空间的二维超曲面上。 与三维的半空间邻接的二维超曲面能够例如为多面体的侧面。多面体在此应理解 为三维空间的子集，该子集仅邻接平坦的面、即平面。多面体能够例如为是钝角二十面体、 立方体、十二面体、二十面体、具有圆柱结构的7角截锥体、具有圆柱中间结构的6角截锥体 或具有不同节距的第二截锥体的9角锥体。点光源在此优选至少部分地构成为发光二极管。 本发明的一个主题思想还在于，针对点光源为支架结构设置一个或多个电路板。 在当前情况下，电路板、也称印刷电路板应理解为构成为板状载体的平面组件，用 于容纳电气和/或电子部件。在这样的平面组件上，这些部件可以自由地布线或在优选的实 施方式中连接至以电绝缘材料牢固粘附的导电连接中。该平面组件的板状载体可例如由材 4 CN 111595269 A 说　明　书 3/21 页 料FR2、FR3、CEM1、CEM3或FR4制成。 以SMD形式的发光二极管可以用自动贴装机安装在电路板上。在此，自动贴装机使 得可以在电路板上按照定义以这样的定位精度定位发光二极管，即定位精度处于从0.001  mm到0.01  mm的范围内并且例如可以使用CAD程序精确指定。 物镜组件以适宜的方式具有光轴，该光轴与调节轴线齐平。在此，物镜组件的光轴 应理解为物镜组件的光学元件的折射光的面的曲率中心点的连接线。通常，光轴是光学组 件的光学元件的对称轴线。 根据本发明的设备能够具有安排在接收范围与物镜组件之间的透镜、优选场透 镜，该透镜的折射能力为正或为负。在当前情况下，场透镜这一概念应理解为聚光透镜，其 作用在于使由点光源发出的光在待测量的物体的光学有效面上的参考表面法线的入射角 变得更陡。从而可以实现，还能够以高精度确定待测量的物体的光学有效凹面的形貌。 有利的是，透镜、优选场透镜也具有与物镜组件的光轴齐平的光轴，即与透镜组件 的光轴重合的对称轴线。以这种方式可行的是，以高精度测量物体的光学有效凹面。 为了校准根据本发明的用于测量物体的光学有效面的形貌和/或梯度和/或曲率 的设备，确定球形接触部在参考相机的图像传感器的坐标系和成像尺寸中的位置以及相机 的光学成像系统的失真。在此尤其有利的是，在使用优化方法的情况下通过测量已知的几 何形状的测试对象来算出该接触部的位置。成像尺寸能够通过测量该图像传感器上盘状的 测试对象的亮度分布来确定。 还有利的是，图像传感器的调节轴线的走向在参考该图像传感器的坐标系中确 定。尤其有利的是，在参考相机的图像传感器的坐标系中使用优化方法确定点光源的位置， 也就是说使用这样一种方法，即在其中将目标函数最大化或最小化。 作为优化方法，在此例如能够使用这样一种优化方法，即其将目标函数最小化，借 助该目标函数确定对象结构与测试对象已知的几何形状之间的偏差，其中通过系统参数的 变化来确定目标函数的最大值或最小值。系统参数的这种变化能够例如通过梯度下降法来 执行。 对于根据本发明的具有安排在接收范围与物镜组件之间的透镜、优选场透镜的设 备而言，适宜的是，在第一步中确定点光源在透镜、优选场透镜上的反射并且然后在图像传 感器上的关于测试对象所采集的亮度分布中抑制这些反射。 为了避免干扰性光反射，有利的是，在点光源之间安排一种材料，该材料吸收在由 点光源发出的光的波长范围内的光。 本发明还包括一种方法，用于测量物体的光学有效面的形貌和/或梯度和/或曲 率，该方法可以包括以下步骤： i.  将该待测量的物体安排在接收范围内贴靠在该物体上的接触部上； ii.  采集由光斑组合成的亮度分布，该亮度分布在图像传感器上由一个或多个点光源 的反射到待测量的面上的光引起； iii. 算出图像传感器上光斑的质心； iv.  将该亮度分布与引起该亮度分布的点光源对应； v.  确定由点光源发出的光在该物体上的反射位置； vi.  计算由点光源发出的光的反射位置上的表面法线 ； 5 CN 111595269 A 说　明　书 4/21 页 vii. 通过面的由表面法线 确定的方向导数的积分计算物体的形貌；并且 viii.  迭代地重复第v步至第vii步直至达到收敛标准，也就是说一直重复迭代的第v 步至第vii步，直至在两个连续的步骤中计算出的形貌的标准差小于规定的公差；并且 ix.  算出在参考图像传感器的坐标系的坐标系中物体的面上至少一个点的地点和/或 位置。 本发明还包括一种计算机程序，其具有程序代码，用于校准用于测量物体的光学 有效面的形貌和/或梯度和/或曲率的设备，以及还包括一种计算机程序，其具有程序代码， 尤其用于执行上述方法中的第iii步至第ix步。 此外，本发明还涉及一种计算机，其具有处理器和存储器，在该存储器上存储有上 述计算机程序。 本发明的优选实施方式在下面的第1至38条中再现： 1.  一种方法，用于测量物体（12）的光学有效面（18）的形貌和/或梯度和/或曲率，该方 法包括以下步骤： i.  将该物体安排在接收范围（14）内贴靠在该物体（12）上的接触部上； ii.  采集由光斑（57）组合成的亮度分布（79），该亮度分布由一个或多个光点、优选点 光源（20）的反射到该物体（12）的待测量的面（18）上的光引起； iii. 算出光斑（57）的位置和/或地点、优选质心（58）； iv.  将该亮度分布与引起该亮度分布的光点、优选点光源（20）对应； v.  确定由这些光点、优选点光源（20）发出的光在该物体（12）上的反射位置； vi.  计算对于由这些光点、优选点光源（20）发出的光的反射位置上的表面法线 ；并 且 vii. 通过表面法线 的积分计算该物体（12）的形貌； viii.  迭代地重复第v步至第vii步直至达到收敛标准；并且 ix.  算出该物体（12）的待测量的面（18）上的至少一个点（50）在对设备而言固定的坐 标系（78）中的位置和/或地点。 2.  一种设备（10），用于测量物体（12）的光学有效面（18）的形貌和/或梯度和/或 曲率，该设备包括： i.  装置（16），用于将该物体安排在接收范围（14）内贴靠在该物体（12）上的接触部上； ii.  装置，用于采集由光斑（57）组合成的亮度分布（79），该亮度分布由一个或多个光 点、优选点光源（20）的反射到该物体（12）的待测量的面（18）上的光引起； iii.  装置，用于算出光斑（57）的位置和/或地点、优选质心（58）；并且 iv.  装置，用于算出该物体（12）的该面（18）上的至少一个点（50）在对设备而言固定的 坐标系（78）中的位置和/或地点，该算出过程具有下列步骤： 第1步： 将该亮度分布与引起该亮度分布的光点、优选点光源（20）对应； 第2步： 确定由这些光点、优选点光源（20）发出的光在该物体（12）上的反射位置； 第3步： 6 CN 111595269 A 说　明　书 5/21 页 计算对于由光点、优选点光源（20）发出的光的反射位置上的表面法线 ； 第4步： 通过表面法线 的积分计算该物体（12）的形貌；并且 迭代地重复第1步至第4步直至达到收敛标准。 3.  根据第2条所述的设备，其中用于采集由光斑（57）组合成的亮度分布（79）的该 装置具有带有物镜组件（40）和图像传感器（46）的至少一个相机（34），在该图像传感器上该 亮度分布由反射到该面（18）上的光引起。 4.  一种设备（10），用于测量物体（12）的光学有效面（18）的形貌和/或梯度和/或 曲率；其中具有至少一个相机（34），该相机具有物镜组件（40）和图像传感器（46）用于采集 亮度分布，该亮度分布在图像传感器（46）上由反射到该面（18）上的光引起；并且该相机 （34）的该图像传感器（46）沿着穿过该物镜组件（40）的调节轴线（52）能够线性移动式位移 地安排。 5.  根据第3条或第4条所述的设备，其中该物镜组件（40）具有与该调节轴线（52） 齐平的光轴（42）。 6.  根据第4条或第5条所述的设备，其中装置（16），用于将该待测量的物体（12）安 排在接收范围（14）内贴靠在该物体（12）上的接触部上。 7.  根据第6条所述的设备，其中提供光的多个光点、优选点光源（20），该光被反射 到安排在该接收范围内的物体（12）的该待测量的面（18）上。 8.  根据第3条或第7条所述的设备，其中计算机单元（56），其具有计算机程序和存 储器，该计算机程序存储在该存储器中，其中该计算机程序使用算法根据通过该图像传感 器（46）采集到的亮度分布计算该物体（12）的光学有效面（18）的形貌和/或梯度和/或曲率， 该亮度分布在该图像传感器（46）上由光点、优选点光源（20）的反射到待测量的面（18）上的 光引起。 9.  根据第2条、第3条、第7条或第8条之一所述的设备，其中点光源（20）安排在半 空间上，优选安排在与三维的半空间邻接的二维超曲面（26）上或半球上。 10 .  根据第3条或第6条至第9条之一所述的设备，其中通过安排在该接收范围 （14）与该物镜组件（40）之间的透镜、优选场透镜（80），该透镜的折射能力为正或为负并且 该透镜用于将光点（20）、优选点光源的光转向该物体（12）并将该反射到该物体（12）上的光 引导至相机（34）。 11 .  根据第10条所述的设备，其中该场透镜（80）具有与该物镜组件（40）的光轴 （42）齐平的光轴。 12 .  一种方法，用于测量物体（12）的光学有效面（18）的形貌和/或梯度和/或曲 率，该方法包括提供至少一个相机（34）这一步骤，该相机具有物镜组件（40）和具有图像传 感器（46）用于采集亮度分布，该亮度分布在图像传感器（46）上由反射到该待测量的面（18） 上的光引起；以及该相机（34）的该图像传感器（46）沿着穿过该物镜组件（40）的调节轴线 （52）移位这一步骤。 13.  一种设备（10），用于测量物体（12）的光学有效面（18）的形貌和/或梯度和/或 曲率，其具有用于以能够贴靠在该物体（12）上的接触部（17）将该物体（12）安排在接收范围 （14）内的装置；具有提供光的多个光点、优选点光源（20），该光被反射到安排在该接收范围 7 CN 111595269 A 说　明　书 6/21 页 （14）内的物体的该待测量的面（18）上；具有至少一个相机（34），该相机具有物镜组件（40） 和图像传感器（46）用于采集亮度分布，该亮度分布在图像传感器（46）上由这些光点、优选 点光源（20）的反射到该待测量的面（18）上的光引起；以及具有安排在该接收范围（14）与该 物镜组件（40）之间的透镜、优选场透镜（80），该透镜的折射能力为正或为负，其中该透镜、 优选场透镜（80）具有与该物镜组件（40）的光轴（42）齐平的光轴，其中使用优化方法来确定 光点、优选点光源（20）的位置和/或地点。 14 .  一种方法，用于测量物体（12）的光学有效面（18）的形貌和/或梯度和/或曲 率，该方法包括以下步骤： 以能够贴靠在该物体（12）上的接触部（17）将该物体（12）安排在接收范围（14）内； 提供来自大量光点、优选点光源（20）的光，该光被反射到安排在该接收范围（14）内的 物体的该待测量的面（18）上； 提供至少一个相机（34），该相机具有图像传感器（46）和物镜组件（40）； 提供安排在该接收范围（14）与该物镜组件（40）之间的透镜、优选场透镜（80），该透镜 的折射能力为正或为负，其中该透镜、优选场透镜（80）具有与该物镜组件（40）的光轴（42） 齐平的光轴；并且 采集亮度分布，该亮度分布在该图像传感器（46）上由光点、优选点光源（20）的反射到 该待测量的面（18）上的光引起；并且使用优化方法进行光点、优选点光源（20）的位置和/或 地点的确定。 15.  一种方法，用于校准测量物体（12）的光学有效面（18）的形貌和/或梯度和/或 曲率的设备（10）， 具有用于以能够贴靠在该物体（12）上的接触部（17）将该物体（12）安排在接收范围 （14）内的装置； 具有提供光的多个光点、优选点光源（20），该光被反射到安排在该接收范围（14）内的 物体的该待测量的面（18）上； 具有至少一个相机（34），该相机具有物镜组件（40）和图像传感器（46）用于采集亮度分 布，该亮度分布在图像传感器（46）上由这些光点、优选点光源（20）的反射到该待测量的面 （18）上的光引起； 具有安排在该接收范围（14）与该物镜组件（40）之间的透镜、优选场透镜（80），该透镜 的折射能力为正或为负，并且其中确定该相机（34）的该光学成像系统的成像尺寸和失真。 16.  根据第15条所述的方法，其中在参考该相机（34）的该图像传感器（46）的坐标 系（78）中确定该接触部（17）的位置和/或地点。 17.  根据第16条所述的方法，其中在使用优化方法的情况下通过测量已知的几何 形状的测试对象来确定该接触部（17）的位置和/或地点。 18.  根据第15条或第16条所述的方法，其中通过在该图像传感器（46）上测量盘状 的测试对象（76）的亮度分布（79）来确定成像尺寸。 19.  根据第15条至第18条之一所述的方法，其中在参考该图像传感器（46）的坐标 系（78）中确定该图像传感器（46）的调节轴线（52）的走向。 20. 根据第15条至第19条之一所述的方法，其中执行下列步骤： 确定光点、优选点光源（20）在该透镜、优选场透镜（80）上的反射； 8 CN 111595269 A 说　明　书 7/21 页 抑制在该图像传感器（46）上针对测试对象采集到的亮度分布（79）中的这些反射。 21.  一种具有程序代码工具的计算机程序，该程序代码工具用于当该程序实施在 计算机单元（56）上时执行根据第1、第12、第14条或第15至第20条之一所述的方法。 22.  一种设备（10），用于测量物体（12）的光学有效面（18）的形貌和/或梯度和/或 曲率，其具有用于以能够贴靠在该物体（12）上的接触部（17）将该物体（12）安排在接收范围 （14）内的装置；具有提供光的多个光点、优选点光源（20），该光被反射到安排在该接收范围 （14）内的物体的该待测量的面（18）上；以及具有至少一个相机（34），该相机具有物镜组件 （40）和图像传感器（46）用于采集亮度分布，该亮度分布在图像传感器（46）上由这些光点、 优选点光源（20）的反射到该待测量的面（18）上的光引起；其中该相机（34）的该图像传感器 （46）沿着穿过该物镜组件（40）的调节轴线（52）能够线性移动式位移地安排。 23.  根据第22条所述的设备，其中计算机单元（56），其具有计算机程序和存储器， 该计算机程序存储在该存储器中，其中该计算机程序使用算法根据通过该图像传感器（46） 采集到的亮度分布计算该物体（12）的光学有效面（18）的形貌和/或梯度和/或曲率，该亮度 分布在该图像传感器（46）上由光点、优选点光源（20）的反射到待测量的面（18）上的光引 起。 24.  根据第22条或第23条所述的设备，其中光点、优选点光源（20）安排在与三维 的半空间邻接的二维超曲面（26）上和/或该物镜组件（40）具有与该调节轴线（52）齐平的光 轴（42）。 25.  根据第22条至第24条之一所述的设备，其中安排在该接收范围（14）与该物镜 组件（40）之间的透镜、优选场透镜（80），该透镜的折射能力为正或为负。 26 .  根据第25条所述的设备，其中该透镜、优选场透镜（80）具有与该物镜组件 （40）的光轴（42）齐平的光轴。 27.  一种方法，用于校准根据第22至第26条之一所述的用于测量物体的光学有效 面（18）的形貌和/或梯度和/或曲率的设备（10），该方法包括以下步骤： -  在参考该相机（34）的该图像传感器（46）的坐标系（78）中确定该接触部的位置和/或 地点；并且 -  确定该相机（34）的该光学成像系统的成像尺寸和失真。 28.  根据第27条所述的方法，其中在使用优化方法的情况下通过测量已知的几何 形状的测试对象（76）来确定该接触部（17）的位置和/或地点。 29.  根据第27条或第28条所述的方法，其中通过在该图像传感器（46）上测量盘状 的测试对象（76）的亮度分布（79）来确定成像尺寸。 30.  根据第27条至第29条之一所述的方法，其中在参考该图像传感器（46）的坐标 系（78）中确定该图像传感器（46）的调节轴线（52）的走向。 31.  根据第26条至第30条之一所述的方法，其中在参考该相机（34）的该图像传感 器（46）的坐标系（78）中使用优化方法来确定光点、优选点光源（20）的位置。 32.  一种方法，用于校准根据第25条或第26条之一所述的用于测量物体的光学有 效面（18）的形貌和/或梯度和/或曲率的设备（10），该方法包括以下步骤： -  在参考该相机（34）的该图像传感器（46）的坐标系（78）中确定该接触部（17）的位置； 并且 9 CN 111595269 A 说　明　书 8/21 页 -  确定该相机（34）的该光学成像系统的成像尺寸和失真。 33.  根据第32条所述的方法，其中在使用优化方法的情况下通过测量已知的几何 形状的测试对象来确定该接触部（17）的位置。 34.  根据第32条或第33条所述的方法，其中通过在该图像传感器（46）上测量盘状 的测试对象（76）的亮度分布（79）来确定成像尺寸。 35.  根据第32条至第43条之一所述的方法，其中在参考该图像传感器（46）的坐标 系（78）中确定该图像传感器（46）的调节轴线（52）的走向。 36. 根据第32条至第35条之一所述的方法，包括以下步骤： 确定光点、优选点光源（20）在该透镜、优选场透镜（80）上的反射； 抑制在该图像传感器（46）上针对测试对象采集到的亮度分布（79）中的这些反射。 37 .  一种方法，用于测量物体（12）的光学有效面（18）的形貌和/或梯度和/或曲 率，该方法包括以下步骤： i.  将该待测量的物体安排在接收范围（14）内贴靠在该物体（12）上的接触部上； ii.  采集由光斑（57）组合成的亮度分布（79），该亮度分布在图像传感器（46）上由一个 或多个光点、优选点光源（20）的反射到待测量的面（18）上的光引起； iii.  算出在该图像传感器（46）上光斑（57）的位置和/或地点，优选算出在该图像传感 器（46）上光斑的质心（58）； iv.  将该亮度分布与引起该亮度分布的光点、优选点光源（20）对应； v.  确定由光点、优选点光源（20）发出的光在该物体（12）上的反射位置； vi.  计算对于由光点、优选点光源（20）发出的光的反射位置上的表面法线 ；并且 vii. 通过表面法线 的积分计算该物体（12）的形貌； viii.  迭代地重复第v步至第vii步直至达到收敛标准；并且 ix.  算出该物体（12）的面（18）上的至少一个点（50）在对设备而言固定的坐标系（78） 中的位置。 38.  一种具有程序代码的计算机程序，用于采用根据第27至第36条之一所述的方 法、或采用用以执行在第37条中给定的方法中的第iii步至第ix步的程序代码校准用于测 量根据第22至第26条之一所述构成的物体（12）的光学有效面（18）的形貌和/或梯度和/或 曲率的设备（10）。 附图说明 下面借助在附图中以示例性的方式示出的实施例进一步解释本发明。 附图示出： 图1示出了用于通过点光源测量呈眼镜镜片形式的物体的形貌和/或梯度和/或曲率的 第一设备； 图2示出了设备中的相机的图像传感器上的亮度分布； 图3示出了制造公差对设备的仪表常数的影响； 图4和图5示出了在图像传感器上采集到的呈眼镜镜片形式的物体上的光的反射点与 设备中的点光源的位置之间的空间关系； 图6a和图6b示出了在图像传感器上采集到的反射点针对设备中来自不同点光源的光 10 CN 111595269 A 说　明　书 9/21 页 的对应； 图7示出了算出物体的待测量的光学有效面在设备中的接触部上的接触点； 图8a示出了安排在设备中的盘状测试对象的图像，用于确定机器参数或仪表常数； 图8b示出了使用设备的图像传感器采集到的在球面上的点光源的光的反射的亮度分 布，用于确定设备的机器参数或仪表常数； 图8c示出了设备中白色圆盘的图像，用于确定设备的机器参数或仪表常数； 图9示出了用于测量呈眼镜镜片形式的物体的形貌的第二设备； 图10示出了制造公差对设备的仪表常数的影响； 图11和图12示出了在设备中的图像传感器上采集到的针对待测量的物体上的光的反 射点与点光源的位置和/或地点之间的空间关系。