技术摘要：
本发明公开了一种信息确定的方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：确定计算第一核材料的材料信息时的第一系统误差和第一随机误差；根据第一系统误差、第一随机误差、计算第二核材料的材料信息时的第二系统误差、第二随机误差和第三随机误差，确定MUF的随机方差和MU  全部
背景技术：
不平衡差(MaterialUnaccountedFor，MUF)评价是指在平衡周期期末，用已知的初 始的核材料量与最终的实物盘存的核材料量进行比较，结合平衡周期内核材料增加和减少 的量，来推断该周期内是否发生了核材料的非法转移和重大缺失，也就是出现MUF的原因。 但是，只通过MUF本身来确定出现MUF的原因的准确性低。
技术实现要素：
本发明实施例提供一种信息确定的方法、装置、设备及存储介质，提高了确定核材 料出现不平衡偏差原因的准确性。 第一方面，提供了一种信息确定的方法，该方法包括： 确定计算第一核材料的材料信息时的第一系统误差和第一随机误差； 根据第一系统误差、第一随机误差、计算第二核材料的材料信息时的第二系统误 差、第二随机误差和第三随机误差，确定MUF的随机方差和MUF的系统方差；第一核材料和第 二核材料是相同的核材料； 根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的原因信息。 在一种可能的实现方式中，根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的原因 信息，包括： 根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的偏差； 根据MUF的偏差和MUF，确定MUF的原因信息。 在一种可能的实现方式中，根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的原因 信息，包括： 根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的方差和MUF的误差； 根据MUF的方差和MUF的误差，确定MUF的相对偏差； 根据MUF的相对偏差，确定MUF的原因信息。 在一种可能的实现方式中，该方法还包括： 获取不同预设周期内核材料在每个材料平衡区的核材料信息； 根据相邻的预设周期内核材料在每个材料平衡区的核材料信息，对核材料进行材 料平衡结算，确定MUF。 第二方面，提供了一种信息确定的装置，该装置包括： 误差确定模块，用于确定计算第一核材料的材料信息时的第一系统误差和第一随 机误差； 方差确定模块，用于根据第一系统误差、第一随机误差、计算第二核材料的材料信 4 CN 111553054 A 说　明　书 2/11 页 息时的第二系统误差、第二随机误差和第三随机误差，确定MUF的随机方差和MUF的系统方 差；第一核材料和第二核材料是相同的核材料； 信息确定模块，用于根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的原因信息。 在一种可能的实现方式中，信息确定模块，具体用于： 根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的偏差； 根据MUF的偏差和MUF，确定MUF的原因信息。 在一种可能的实现方式中，信息确定模块，具体用于： 根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的方差和MUF的误差； 根据MUF的方差和MUF的误差，确定MUF的相对偏差； 根据MUF的相对偏差，确定MUF的原因信息。 在一种可能的实现方式中，该装置还包括： 获取模块，用于获取不同预设周期内核材料在每个材料平衡区的核材料信息； 结算模块，用于根据相邻的预设周期内核材料在每个材料平衡区的核材料信息， 对核材料进行材料平衡结算，得到MUF。 第三方面，提供了一种电子设备，该设备包括：处理器以及存储有计算机程序指令 的存储器；处理器执行计算机程序指令时实现如第一方面或者第一方面的任一可能实现方 式中的方法。 第四方面，提供了一种计算机存储介质，该计算机存储介质上存储有计算机程序 指令，计算机程序指令被处理器执行时实现如第一方面或者第一方面的任一可能实现方式 中的方法。 基于提供的信息确定的方法、装置、设备及存储介质，通过确定计算第一核材料的 材料信息时的第一系统误差和第一随机误差；根据第一系统误差、第一随机误差、计算第二 核材料的材料信息时的第二系统误差、第二随机误差和第三随机误差，确定MUF的随机方差 和MUF的系统方差；第一核材料和第二核材料是相同的核材料；根据MUF的随机方差和MUF的 系统方差，确定MUF的原因信息，因此，提高了确定核材料出现不平衡偏差原因的准确性。 附图说明 为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例中所需要使 用的附图作简单的介绍，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还 可以根据这些附图获得其他的附图。 图1是本发明实施例提供的一种信息确定的方法的流程示意图； 图2是本发明实施例提供的一种信息确定的装置的结构示意图； 图3是本发明实施例提供的电子设备的结构示意图。