技术摘要：
本发明公开了一种支持掉电数据随机化的FLASH仿真器，仿真器包括FLASH接口处理模块、数据通路选择模块、掉电数据随机化模块、擦写控制模块、读控制模块和存储器模块。仿真器通过FLASH接口处理模块产生控制信号，在FLASH擦写高压使能信号有效期间，若掉电数据随机化模块  全部
背景技术：
为提高FLASH芯片的可靠性，许多厂商提出了基于FTL(Flash  Translation  Layer)技术的软硬件方案，这种方案要求软件设计和测试中，必须支持FLASH芯片掉电和非 掉电后的各种数据处理，完成接口掉电功能测试。客户使用的FLASH芯片，在FLASH擦写期间 若出现掉电，存储单元数据一般有三种情况：新数据、原数据和随机数据。 基于FLASH芯片软硬件协同开发测试需求，多数FLASH芯片需要在FLASH仿真器上 进行FLASH功能和软件设计开发调试。通用的FLASH仿真器，以FPGA(Field  Programmable  Gate  Array)仿真FLASH芯片的功能，完成FLASH擦写读等基本命令，通过计数器模拟FLASH 擦写延时，达到真实FLASH芯片擦写的延时效果。 这类仿真器通常实现了在FLASH擦写期间(擦除和编程命令的高压期间)掉电写入 数据两种情况的功能仿真，在FLASH擦写期间未出现掉电现象，则数据被正确写入存储单 元；若在FLASH擦写期间出现接口掉电，则数据或是被正确写入存储单元，或是未被写入保 持原数据值。没有仿真实际FLASH芯片的第三种随机数据情况，无法满足软件开发和接口掉 电测试需求。 针对上述问题，本发明提出一种支持掉电数据随机化的FLASH仿真器。FLASH仿真 器支持FLASH的擦、写和读操作；FLASH仿真器支持FLASH高压期间接口掉电，数据可能被正 确写入、或保持原有数据不变、或写入随机化数据。FLASH仿真器具有在FLASH高压期间掉电 数据随机化的功能，便于软件开发和接口掉电测试，以保证软件开发质量。
技术实现要素：
本发明解决的是FLASH仿真器中如何实现掉电数据随机化的功能，以实现FLASH芯 片掉电数据随机化的功能仿真。 为实现上述功能，本发明的仿真器，包括：FLASH接口处理模块、数据通路选择模 块、掉电数据随机化模块、擦写控制模块、读控制模块和存储器模块。 FLASH接口处理模块，与FLASH控制器接口相连，实现FLASH控制器擦命令、写命令 和读命令的接口信号处理功能；FLASH接口处理模块输出高压使能HV_EN信号，控制掉电数 据随机化模块和数据通路选择模块；数据通路选择模块，与FLASH接口处理模块、掉电数据 随机化模块和读控制模块相连，实现擦写数据和读数据的通路控制功能；掉电数据随机化 模块，与数据通路选择模块、擦写控制模块和读控制模块相连，实现FLASH擦写期间掉电生 成随机数据值功能，或擦写期间未掉电保持接口原擦写数据值功能；擦写控制模块，与掉电 数据随机化模块和存储器模块相连，实现FLASH擦写控制功能；读控制模块，与存储器模块、 掉电数据随机化模块和数据通路选择模块相连，读取接口读地址的存储器模块数据，或是 4 CN 111597699 A 说　明　书 2/3 页 读取当前擦写地址的存储器模块数据；存储器模块，与擦写控制模块和读控制模块相连，实 现数据的存储和读取功能。 本发明的仿真器，其中掉电数据随机化模块，包括：掉电检测模块、复位控制模块、 擦写数据处理模块和随机数生成模块。掉电检测模块，检测接口掉电PORn信号和擦写高压 使能HV_EN信号的状态，输出数据随机化使能FILL_EN信号，实现接口掉电检测和控制功能； 擦写数据处理模块，与随机数生成模块、擦写控制模块、读控制模块和数据通路选择模块相 连，实现擦写数据的处理功能；复位控制模块，在PORn信号和FILL_EN信号控制下，输出高压 复位HV_RST信号，实现对擦写控制模块的复位控制功能；随机数生成模块，与擦写数据处理 模块相连，产生随机数。 附图说明 附图1是本发明的FLASH仿真器结构图。 附图2是本发明的高压期间掉电数据处理时序图。